安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD价格是多少

X射线衍射仪工作原理是什么？ x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。普遍应用于冶金，石油，化工，科研，教学，材料生产等领域。X射线衍射仪普遍应用于冶金，石油，化工，科研，教学，材料生产等领域。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD价格是多少

X射线荧光光谱仪优缺点：优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为明显。波长变化用于化学位的测定 。c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e) 分析精密度高。f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。缺点：a）难于作相对分析，故定量分析需要标样。 b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。嘉兴衍射仪价格表X射线衍射仪的用途是什么？

衍射仪也称X射线发生器、探测器X射线发生器，是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。探测器是用来记录衍射谱的，因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射线会透过而不被吸收；它的计数线性范围不大，强衍射不易测准；而且，还会起“雾”；又由于要有暗室用化学法进行显影、定影、冲洗、晒干等一套繁琐的过程，因此被性能更好的光子计数器所取代。计数器探测器不需化学处理，可以通过电子电路直接记录衍射的光子数，方便了许多。计数器是盖格计数器，但由于它的时间分辨率不高，计数的线性范围不大，故不是一个良好的探测器。以后，正比计数器及闪烁计数器取代了盖格计数器，成为较普遍使用的探测器。随着人类对自然的认识越来越广，越来越深，对实验的要求也越来越高，越多样化，简单的正比或闪烁计数器亦不能满足不同的实验要求，于是又陆续发展出许多不同的探测器。

XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。 X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。 X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。衍射仪的定制尺寸。欢迎来电咨询上海泽权！

X射线衍射的一般实验过程：样品制备：对于粉末样品，通常要求其颗粒的平均粒径控制在5mm左右即过320目的筛子，还要求试样无择优取向。因此，通常应用玛瑙研钵对待测样品进行充分研磨后使用。对于块状样品应切割出合适的大小，即不超过铝制样品架的矩形孔洞的尺寸，另外还要用砂轮和砂纸将其测试面磨得平整光滑。充填试样：将适量研磨好的试样粉末填入样品架的凹槽中，使粉末试样在凹槽里均匀分布，并用平整光滑的玻片将其压紧；将槽外或高出样品架的多余粉末刮去，然后重新将样品压平实，使样品表面与样品架边缘在同一水平面上。块状样品直接用橡皮泥或石蜡粘在铝制样品架的矩形孔洞中，要求样品表面与铝制样品架表面平齐。X射线衍射仪作为一款便携式衍射仪，无需外接压缩气体、水冷装置、二次冷水机组或外置变压器。无锡衍射仪代理价格

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用x射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。如果x射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为eb，射出固体后的动能为ec，则它们之间的关系为： hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： eb＝hν-ec-ws 可见，当入射x射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD价格是多少

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