广东贵金属分析仪供应商

时间:2023年05月24日 来源:

XRF分析仪如何测量涂层厚度: 准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品,同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处;产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时,也会对涂层进行检测:确保所接收来料使用的是正确的涂层材料,且涂层的厚度准确无误。 取决于不同的材料,奥林巴斯Vanta手持式XRF分析仪可以测量范围从0.00到约60.00微米的涂层厚度。分析仪发出X射线,X射线撞击到被测样本,使样本发出荧光。分析仪探测到返回的X射线,并使用获得的数据计算涂层的厚度。 根据国际材料工程师和科学家协会(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,属于这个范围的各种表面工程技术包括电镀(机械、化学、电解)、蒸发(化学和物理沉积)和粘合(树脂或漆料)。配备了涂层方式的Vanta分析仪可以测量金属等,甚至木材表面的涂层厚度,且可测量多层涂层的厚度。广东贵金属分析仪供应商

奥林巴斯Vanta Element分析仪使用双核处理器,并搭载了奥林巴斯Axon技术,拥有高计数率和出色稳定性,可以直接在屏幕上对比合号,用户*在几秒钟之内便可获得清晰的材料和牌号辨别信息。在坚固耐用方面,Vanta 分析仪自带防水防潮功能,符合防护等级IP54评定标准,在户外也不必担心下雨落水等突发情况。其次,新款Vanta 分析仪顺利通过从4英尺高处坠落测试(MIL-STD-810G),确保在发生意外坠落或撞击时依旧可以继续工作。除了合金分析外,奥林巴斯Vanta 分析仪还能做矿石分析、土壤分析、ROHS分析,不仅样品制备简单,测定范围也比较广。此外,它可以实现单手操作,轻轻一点,不用进行太多的操作,数据就能显示在屏幕上,简单直观,适用于大部分现场和野外的工作场景。 湖北流动分析仪供应商合金分析仪可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素。

合金分析仪是基于X射线理论而诞生的,它主要用于**、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和***制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。手持式合金分析仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器,主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成。手持式合金分析仪是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

Vanta分析仪可以在很大程度上提高用户的分析量,并使数据归档操作简单易行。 针对特定应用的各种软件功能可以提高用户的生产效率,从而使用户更快地获得投资回报。 简单直观的用户界面(UI)可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能。 用户可以自行决定主屏幕上显示的功能快捷键。 通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单。 在任何光线条件下,触摸显示屏都具有清晰、明亮、可读的特性。 符合人体工程学要求的按钮以及工业级别的操控杆按钮,可使用户在戴着手套的情况下,也能轻松地浏览分析仪的用户界面。 嵌入式GPS功能可以将精确的GPS坐标与结果一起存储,以便建立文档并绘制元素位置的映射图。 可选5百万像素全景摄像头;将带有XRF数据的图像与GPS坐标综合在一起使用。 简洁的报告制作和归档操作,具有较佳的追溯数据到野外的性能。 可以应用云技术。Vanta分析仪可以在很大程度上提高用户的分析量,并使数据归档操作简单易行。

贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器,常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵,不能轻易破坏其外形,故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损、精确的无损检测仪,普遍应用于珠宝首饰检测行业。贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器,常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵,不能轻易破坏其外形,故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。而快速、无损、精确的无损检测仪,普遍应用于珠宝首饰检测行业。影响贵金属无损分析仪测量结果的因素有如下几点。由于首饰产品的特殊情况,受方法原理的限制,在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果 的因素(这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响,甚至造成误判):a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异;b)被测样品的表面有镀层或经化学处理;c)测量时间;d)样品的形状;e)样品测量的面积;f)贵金属的含量多少;g)被测样品的均匀程度(包括偏析和焊药等)。Vanta手持式XRF分析仪具有很高的性价比。广东三元锂电池分析仪供应

XRF分析仪作为精密元素分析仪器之一,功能十分强大。广东贵金属分析仪供应商

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围可以从12号元素(Mg)到92号元素(U)。广东贵金属分析仪供应商

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