上海 PH121-PCC10A加热板说明书
3-1.研磨盘主体;3-2.数显深度测量指示表;4.安装支架;5.晶圆加热器。具体实施方式为了使本实用新型的发明目的、技术方案及其有益技术效果更加清晰,以下结合附图和具体实施方式,对本实用新型进行进一步详细说明;在附图中:一种等离子体cvd晶圆加热器用表面修磨装置,其特征在于:从下至上依次设置有安装支架4、旋转装置2、加热器支撑圆盘1、研磨盘3,晶圆加热器5设置在加热器支撑圆盘1和研磨盘3之间;研磨盘3包括研磨盘主体3-1,研磨盘主体3-1底部设置有研磨块3-5、调节支撑圆柱3-4,研磨盘主体3-1通过调节螺栓3-3与研磨块3-5相连接固定,调节螺栓3-3的上端设置有数显深度测量指示表3-2;所述的安装支架4包括安装支撑柱4-3,安装支撑柱4-3上端设置有安装平板4-2,安装支撑柱4-3下端设置有高度调节块4-4,安装平板4-2上设置有安装主体4-1,安装主体4-1内部设置有台阶孔,装有旋转电机2-2的固定座2-1下部与台阶孔相配合固定,旋转电机2-2的上表面设置有连接圆盘2-3,连接圆盘2-3上端设置有支撑圆盘本体1-1,支撑圆盘本体1-1上端通过螺丝1-3固定有圆环1-2;所述的调节支撑圆柱3-4与圆环1-2相连接。所述的高度调节块4-4与安装支撑柱4-3之间设置为螺纹连接。辅助加热水套与中心加热筒2连通的一端用于辅助加热,封闭端用于线圈7的安装检修。上海 PH121-PCC10A加热板说明书
晶圆放置在垫柱3上,使晶圆与加热盘1之间形成间隙,防止晶圆与加热盘1直接接触从而损坏晶圆,。加热盘1上还设有限位柱4,限位柱4的数量为6个,晶圆放置在6个限位柱之间,这方每次加热晶圆时,晶圆都能放置在加热盘1的固定位置。底板2上设置有温度传感器5,温度传感器5用于检测底板2上温度值。底板2上设置有过温保护器6,当温度过高使,对加热器及时断电,防止加热器损坏。实施例二、加热器在工作过程中温度较高,这样加热器的周围的温度也会较高,很容易烫伤工作人员,因此在上述实施例的基础上,曾设了隔热环7,隔热环7套设在加热器**,起到了对周围隔热的作用,同时也减少了加热器热量的散发,同时也保证的工作人员与底板2或加热盘的直接接触,有效的避免了。以上*是本发明的推荐实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。浙江PA4025-WP-PCC20A加热板或者层叠多个桶并在每个桶内设置多个加热器。
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种晶圆加热装置。背景技术:随着科技进步,晶片的加工工艺越来越复杂,要求在单位晶圆面积内制作的器件更多,致使晶圆内线路的宽度变得更窄,晶圆在热盘上加热时,对热盘温度的均匀性要求更高。晶圆加热中使用的热盘都是由上盘和压片中夹一块加热片,或是在上盘中埋入几个加热管构成,通过一个温度传感器和一个控制器控制热盘的温度。使得热盘表面温度并不均匀,不能满足高精度晶圆的加工需求。再如中国实用新型u所公开的一种电控晶圆加热盘,包括硅橡胶电热圈、热导金属板、晶圆托盘、电子显示盒和屏蔽罩。所述硅橡胶电热圈与热导金属板连接;所述热导金属板与电子显示盒连接;所述晶圆托盘放置在热导金属板上方,并与电子显示盒相连;所述的屏蔽罩与电子显示盒相连,该实用新型只使用一个电热圈,会出现加热不均匀的情况。技术实现要素:一、要解决的技术问题针对现有技术所存在的上述缺陷,现有的晶圆加热方法存在的均匀性不佳的问题。二、技术方案为解决上述问题,特提供一种晶圆加热装置,晶圆加热装置包括控制模块和多分区热盘,多分区热盘包括***分区和第二分区;***分区包括***加热模块和***温度检测模块。
**名称:一种高频加热时精确控制温度的方法技术领域:本发明涉及一种高频加热时温度控制的方法,具体涉及一种晶体管高频加热时精确控制温度的装置及方法。背景技术:在冶炼、锻造、热拉、热装、焊接、热处理等金属制造业领域,高频加热的方法已开始逐渐代替传统的加热方法,高频加热作为一种新型的加热方式具有节约能源、加热灵活、操作方便等优点。在金属材料热处理领域,由于不同的材料比较好淬火温度有所不同,因此需要能够精确的控制温度。高频加热的方式虽然具有一系列的优点,但在其温度控制方法上仍然存在以下的不足1,通过传统的时间控制的热处理的淬火温度在士30°C左右,并且受输入电压、环境温度、工件尺寸公差、感应器等因素影响可能温度波动还要大,而理想的热处理的淬火温度是在目标温度士10°c范围内,因此在加工温度精度要求比较高的材料时,传统的方法不能满足质量的要求;2,即使通过红外温度控制等方式,排除输入电压、环境温度、工件尺寸公差、感应器等因素的影响,晶体管高频加热工件,当外界给出高频断开信号时,由于电源控制系统的问题,高频不能在这一瞬间断开,高频断开往往有个时间滞后,并且这个滞后时间存在一定误差。调节支撑圆柱与圆环之间均设置为螺纹连接。
以恢复晶格的完整性。使植入的掺杂原子扩散到替代位置,产生电特性。去除氮化硅层用热磷酸去除氮化硅层,掺杂磷(P+5)离子,形成N型阱,并使原先的SiO2膜厚度增加,达到阻止下一步中n型杂质注入P型阱中。去除SIO2层退火处理,然后用HF去除SiO2层。干法氧化法干法氧化法生成一层SiO2层,然后LPCVD沉积一层氮化硅。此时P阱的表面因SiO2层的生长与刻蚀已低于N阱的表面水平面。这里的SiO2层和氮化硅的作用与前面一样。接下来的步骤是为了隔离区和栅极与晶面之间的隔离层。光刻技术和离子刻蚀技术利用光刻技术和离子刻蚀技术,保留下栅隔离层上面的氮化硅层。湿法氧化生长未有氮化硅保护的SiO2层,形成PN之间的隔离区。生成SIO2薄膜热磷酸去除氮化硅,然后用HF溶液去除栅隔离层位置的SiO2,并重新生成品质更好的SiO2薄膜,作为栅极氧化层。氧化LPCVD沉积多晶硅层,然后涂敷光阻进行光刻,以及等离子蚀刻技术,栅极结构,并氧化生成SiO2保护层。形成源漏极表面涂敷光阻,去除P阱区的光阻,注入砷(As)离子,形成NMOS的源漏极。用同样的方法,在N阱区,注入B离子形成PMOS的源漏极。沉积利用PECVD沉积一层无掺杂氧化层,保护元件,并进行退火处理。在晶圆加热前需要先行对晶圆进行定位,在先技术中通常通过真空吸盘定位。PA4025-WP加热板代理
该锅炉因不易发生、不易泄漏有害气体、噪音小而普遍使用。上海 PH121-PCC10A加热板说明书
同义词wafer一般指晶圆本词条由“科普中国”科学百科词条编写与应用工作项目审核。晶圆指制造半导体晶体管或集成电路的衬底(也叫基片)。由于是晶体材料,其形状为圆形,所以称为晶圆。衬底材料有硅、锗、GaAs、InP、GaN等。由于硅**为常用,如果没有特别指明晶体材料,通常指硅晶圆。[1]在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能的集成电路产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,**化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达99.%。中文名晶圆外文名Wafer本质硅晶片纯度99.%作用制作硅半导体集成电路形状圆形目录1制造过程2基本原料3制造工艺▪表面清洗▪初次氧化▪热CVD▪热处理▪晶圆的背面研磨工艺▪除氮化硅▪离子注入晶圆制造过程编辑晶圆是制造半导体芯片的基本材料,半导体集成电路**主要的原料是硅,因此对应的就是硅晶圆。硅在自然界中以硅酸盐或二氧化硅的形式***存在于岩石、砂砾中,硅晶圆的制造可以归纳为三个基本步骤:硅提炼及提纯、单晶硅生长、晶圆成型。首先是硅提纯,将沙石原料放入一个温度约为2000℃,并且有碳源存在的电弧熔炉中,在高温下。上海 PH121-PCC10A加热板说明书
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