苏州闪测仪仪器

直接测量:无需对被测量与其他实测量进行一定函数关系的辅助计算而直接得到被测量值的测量。间接测量:通过直接测量与被测参数有已知函数关系的其他量而得到该被测参数量值的测量。接触测量:仪器的测量头与工件的被测表面直接接触，并有机械作用的测力存在(如接触式三坐标等)。非接触测量:仪器的测量头与工件的被测表面之间没有机械的测力存在(如光学投影仪、气动量仪测量和影像测量仪等)。组合测量:如果被测量有多个，虽然被测量(未知量)与某种中间量存在一定函数关系，但由于函数式有多个未知量，对中间量的一次测量是不可能求得被测量的值。这时可以通过改变测量条件来获得某些可测量的不同组合，然后测出这些组合的数值，解联立方程求出未知的被测量。苏州厚度测量测量仪器。苏州闪测仪仪器

在仪器的检验校正中已介绍了双轴自动补偿原理，作业时若全站仪纵轴倾斜，会引起角度观测的误差，盘左、盘右观测值取中不能使之抵消。而全站仪特有的双轴（或单轴）倾斜自动补偿系统，可对纵轴的倾斜进行监测，并在度盘读数中对因纵轴倾斜造成的测角误差自动加以改正(某些全站仪纵轴比较大倾斜可允许至±6′）。也可通过将由竖轴倾斜引起的角度误差，由微处理器自动按竖轴倾斜改正计算式计算，并加入度盘读数中加以改正，使度盘显示读数为正确值，即所谓纵轴倾斜自动补偿。上海测量仪器注意事项上海平面度测量仪器 。

测量设备必须符合产品标准及其工艺文件的要求或预期使用要求，可从相关标准、顾客、产品性能、工艺图纸的要求中找出相关的技术参数，再将技术参数转换成测量要求，由此测量要求再根据1/4以上的原则（即测量设备比较大允许误差应优于至少测量的公差或容差的1/4以上），将其转换为计量要求。计量要求主要包括：测量范围、分辨力、比较大允许误差等。计量要求并不是要求越高越好，而是只要满足使用的需要即可。可见它并不是指某台或某类设备，而是对测量所包括的硬件和软件的统称。

1.根据测量条件分为(1)等精度测量:用相同仪表与测量方法对同一被测量进行多次重复测量(2)不等精度测量:用不同精度的仪表或不同的测量方法,或在环境条件相差很大时对同一被测量进行多次重复测量2.根据被测量变化的快慢分为(1)静态测量(2)动态测量1.直接测量法:不必测量与被测量有函数关系的其他量，而能直接得到被测量值的测量方法。2.间接测量法:通过测量与被测量有函数关系的其他量来得到被测量值的测量方法。3.定义测量法:根据量的定义来确定该量的测量方法。4.静态测量方法:确定可以认为不随时间变化的量值的测量方法。5.动态测量方法:确定随时间变化量值的瞬间量值的测定方法。6.直接比较测量法:将被测量直接与已知其值的同种量相比较的测量方法。7.微差测量法:将被测量与只有微小差别的已知同等量相比较，通过测量这两个量值间的差值来确定被测量值的测量方法。东莞纳米运动平台仪器。

较初速测仪的距离测量是通过光学方法来实现的，我们称这种速测仪为“光学速测仪”。实际上，“光学速测仪”就是指带有视距丝的经纬仪，被测点的平面位置由方向测量及光学视距来确定，而高程则是用三角测量方法来确定的。随着电子测距技术的出现，逐渐地推动了速测仪的发展。用电磁波测距仪代替光学视距经纬仪，使得测程更大、测量时间更短、精度更高。人们将距离由电磁波测距仪测定的速测仪笼统地称之为“电子速测仪”（ElectronicTachymeter）。然而，随着电子测角技术的出现。这一“电子速测仪”的概念又相应地发生了变化，根据测角方法的不同分为半站型电子速测仪和全站型电子速测仪。探针测量仪器。。。。深圳测量仪器分类

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1.光敏二极管也叫光电二极管。光敏二极管与半导体二极管在结构上是类似的，其管芯是一个具有光敏特征的PN结，具有单向导电性，因此工作时需加上反向电压。无光照时，有很小的饱和反向漏电流,即暗电流，此时光敏二极管截止。当受到光照时，饱和反向漏电流dada增加，形成光电流，它随入射光强度的变化而变化。当光线照射PN结时，可以使PN结中产生电子一空穴对，使少数载流子的密度增加。这些载流子在反向电压下漂移，使反向电流增光敏二极管加。因此可以利用光照强弱来改变电路中的电流。常见的有2CU、2DU等系列。苏州闪测仪仪器

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