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信号完整性分析系列-第1部分：端口TDR/TDT如前文-单端口TDR所述，TDR生成与互连交互的激励源。我们能通过一个端口测量互连上一个连接的响应。这限制了我们只关注反射回源头的信号。通过这类测量，我们能获得阻抗曲线和互连属性信息，并能提取具有离散不连续的均匀传输线的参数值。在TDR上添加第二个端口后，我们就能极大地扩展测量类型以及能提取的互连信息。额外的端口可用来执行三种重要的新测量：发射的信号、耦合噪声和差分对的差分信号或共模信号响应。采用这些技术实现的重要应用及其实例，都在本章中进行了描述。机械信号完整性测试HDMI测试克劳德实验室提供信号完整性测试解决方案；

2.3 测量插入损耗和回波损耗在简单的应用中，TDR 的端口与单端传输线的末端相连。端口 1 是我们所熟悉的 TDR 响应，而通道 2 是发射的信号。如图 29 所示，在一条均匀的 8 英寸微带传输线的 TDR 响应中，线末端的阻抗为 50 欧姆。这个阻抗来自与被测件末端相连的电缆，终连接到 TDR 第二通道内的源端。

8英寸长微带传输线在20毫伏/格和500皮秒/格刻度下的TDR/TDT响应。此应用的时基为500皮秒/格，垂直刻度为20毫伏/格。游标用于提取47.4欧姆的线阻抗。注意绿线，即通过互连发送的信号，在100毫伏/格的刻度上，它显示出信号进入线的前端、正好在中途出来、反射离开后端，然后在源端接收。TDR信号着眼于信号在互连上的往返时间，然后再回到前端，而TDT信号则着眼于通过互连的单程。在时域显示中，我们可以看到在线两端加载SMA的阻抗不连续，并且能看到它不是完全均匀的传输线。以20毫伏/格的刻度或10%/格的反射系数来看，阻抗变化约为1欧姆。

1.1.2奇异信号a.单位斜变信号。b.单位阶跃信号。c.单位冲激信号d.冲激偶信号。2.信号的运算在信号传输与处理过程中，往往需要进行信号的运算，主要包括移位、反褶与尺度、微分和积分及两信号相加或相乘。3．信号的分解a.直流分量与交流分量：信号平均值即信号的直流分量。交流分量为原信号去掉直流分量后的信号。表示为：f(t)=+b.偶分量与奇分量：任何信号都可以分为偶分量和奇分量。表示为f(t)=[f(t)+f(-t)]+[f(t)-f(-t)]c.脉冲分量：一个信号可以近似分解为许多脉冲分量之和。主要有两种情况，一是矩形窄脉冲分量，二是阶跌信号分量。d.实部分量与虚部分量：对于瞬时值为复数的信号，可以分为虚实两个部分之和。即f(t)=+)e.正交函数分量：如果用正交函数集来表示一个信号，那么组成信号的各分量就是相互正交的。信号接口一致性高速信号完整性测试；

发射的信号具有比较快的边缘，但从屏幕上难以得到关于接收的信号的过多信息。虽然我们可以直接从屏幕上测量10-90或20-80的上升时间，但不清楚此信息有何作用，因为互连将边缘扭曲成了不是真正的高斯边缘。这个例子表明，我们可以采用同样的信息内容，但改变其显示方式，以便更快速、更轻松地进行解释。所示为测得的响应，与时域中所示相同，但转换到了频域。单击TDR响应屏幕右上角的S参数选项卡可访问此屏幕。在频域中，我们将TDR信号称为S11，将TDT信号称为S21。这是两个描述频域中散射波形的S参数。S11也称回波损耗，S21则为插入损耗。垂直刻度为S参数的幅度，单位为分贝。克劳德实验室数字信号完整性测试技巧；机械信号完整性测试配件

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转换成频域的TDR/TDT响应：回波损耗/插入损耗。蓝线是参考直通的插入损耗。当然，如果有一个完美直通的话，每个频率分量将无衰减传播，接收的信号幅度与入射信号的幅度相同。插入损耗的幅度始终为1，用分贝表示的话，就是0分贝。这个损耗在整个20GHz的频率范围内都是平坦的。黄线始于低频率下的约-30分贝，是同一传输线的回波损耗，即频域中的S11。绿线是此传输线的插入损耗，或S21。这个屏幕只显示了S参数的幅度，相位信息是有的，但没有显示的必要。回波损耗始于相对较低的值，接近-30分贝，然后向上爬升到达-10分贝范围，约超过12GHz。这个值是对此传输线的阻抗失配和两端的50欧姆连接的衡量。插入损耗具有直接有用的信息。在高速串行链路中，发射机和接收机共同工作，以发射并接收高比特率信号。在简单的CMOS驱动器中，一个显示误码率之前可能可以接受-3分贝的插入损耗。对于简单的SerDes芯片而言，可以接受-10分贝的插入损耗，而对于先进的高级SerDes芯片而言，则可以接受-20分贝。如果我们知道特定的SerDes技术可接受的插入损耗，那就可以直接从屏幕上测量互连能提供的比较大比特率。上海信号完整性测试信号完整性测试

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