辽宁测温仪面源黑体炉

时间:2021年09月03日 来源:

热像仪生产过程中是如何校准的?

首先,为了校准一台热像仪,必须执行多点校准。简单来说,校准需要接连地把多个温度样品(跨越热像仪的整个温度范围)摆在热像仪前。

其次,由于校准期间发生热耗散的缘故,热像仪的探测器、读出电子元件(读出电路)和镜头会经历温度漂移,这会在校准期间导致超出热像仪规格的误差。*使用一两个黑体是不够的,因为任何黑体的稳定时间很可能超出校准热像仪花费的时间。所以需要根据热像仪的温度段来设置不同温度的黑体,只有这样,才能提高被测热像仪的效率,如第1台黑体设置温度50℃,第二台黑体设置温度100℃,第三台黑体设置温度200℃,第四台黑体设置温度300℃,第五台黑体设置温度400℃,第六台黑体设置温500℃,第七台黑体设置温度600℃,第八台黑体设置温度700℃,第九台黑体设置温度800℃,以此类推,根据热像仪的最高温度。

在实践中,制造商通过采用控制在贯穿热像仪理想温度范围的不同温度点的一组黑体来减轻这一系列问题产生的影响。然后,用机械臂快速移动热像仪,使之经过一个又一个黑体,这样能极大地减少校准下一个温度点之前热像仪必须等待的时间。

上海芸尖智能公司的黑体在各大热像仪生产厂家均有应用。 热成像仪能用面源黑体炉吗?辽宁测温仪面源黑体炉

黑体的作用

红外辐射源HT-S150 黑体为面源黑体(热电控制)的温度调节范围为05℃到+500℃

黑体的典型特征为0.1的完美温度分辨率,可到0.1的温度稳定性以及典型为0.97 可选0.99 的发射率。

发射口径可以从150mmX150mm到600x600mm。HT-S型黑体用于**或者超**应用,如测试制冷

型斯特林红外热像仪,计量标准或者科研项目。

HT-L型黑体是HT系列黑体的特护设计版本设计于扩展温度范围到-40℃。

HT 系列黑体是超高精度的面源黑体优化适用于模拟中温目标。

辐射器的温度由薄的面源加热单元控制,黑体辐射器的温度的调节范围为50℃到550℃,根据不同的类型辐射面尺寸范围为50X50mm 到600X600mm。

HT-S系列 黑体是一台商业的高发射率,工作在THz 及全THz 光谱范围的大面型带宽黑体,HT-S黑体由上海芸尖智能科技公司设计生产并进行了多年的实验与验证,HT-S系列体的设计基于优化工作在 THz 范围的特殊的浇筑吸收涂层,以及大的热均匀辐射器与超高精度电子控制系统组成。 广东面源黑体炉订做计量所使用的面源黑体厂家。

红外线在温度测量的应用,尤其是近红外在高温温度测量方面,其非接触、快速响应、长使用寿命等特性,具有无比的优越性,用于焊接、中.高频感应加热、热处理、冶金、铸造、热锻、皮革,橡胶、电力、化工、玻璃、陶瓷生产等行业,由于工业生产设备各具特性,因而大多数局限于温度测量,更具现实意义温度控制相对滞后,我们根据多年的经验及市场需要,在满足于温度测量的同时,更着重自动温度控制,不断改进产品实用性能,在一定程度限度方便客户与各自现有的设备配套使用,并可在现有硬件允许情况下,及时修改相关软件参数,以达到目标效果。

黑体炉温度的校验方法

在实际应用中,由于种种原因控温传感器和标准传感器总是有一定误差。我们可以通过校正,将控温仪的温度显示等效到标准传感器所测的温度。

⑴  黑体温度的测量

方案1:将黑体设置区间温度点稳定后,将标准温度传感器插入黑体上方的测温孔内,堵住缝隙,四根引线分别接入高精度数字电压表的电阻档(四线制)。

方案2:将黑体设置区间温度点稳定后,使用高精度红外TRT等计量设备,对黑体进行验校

将黑体温度控制在所需修正的温度点上,待温度稳定后,读取标准温度传感器的温度值,或者红外测量系统验校值。

将所测温度与控制温度相减,即为修正值。若所测温度大于控制温度,则修正值为正值,反之为负值。 面源黑体炉的发射率可以更改吗?

黑体炉在温度计量和光学领域发挥的作用

黑体炉能全部吸收外部的辐射能量,同时能全部辐射出自身全部能量的物体。因此在温度计量中主要用于检定各种辐射温度计,如光学高温计、红外温度计、红外热像仪等。

不同的用途对黑体炉的要求是不一样的。黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面,已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里,黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中,黑体已经用作为产生中子源。

  在温度计量领域,主要是利用黑体辐射和温度的对应关系,因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体的辐射能量按照光谱分布(也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量)都能符合普朗克定律,这样我们在检定或校准辐射温度计时,以黑体的温度(或标准辐射温度计)的示值,来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体,同时也要注意黑体腔口直径,温度均匀性和辐射温度不确定度。

  在光学应用中,通常要求辐射源的辐射面积较大,但是温度不高,只关注辐射面的温度均匀性而不一定关注辐射能量与温度对应的准确性,因此选择面源黑体较多。

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中温面源黑体:是一种宽带红外参考源,其波长范围覆盖了从近红外到远红外的波段,辐射面的温度具有很高的精度.作为高辐射强度的参考源,中温面源黑体已被广泛应用于红外传感器如辐射温度计、红外热像仪的校准以及样品辐射率或透过率的测量.用基于大辐射面和坚实结构的面源黑体在实验室内或野外测试中对无准直仪时的红外传感器进行了标定.为了提供红外系统性能测试的解决方案,本文对中温面源黑体进行了设计和性能参数测试.结果表明,其主要参数能满足高稳定度和高精度的要求。


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