线圈测试机使用方法

根据权利要求2所述的一种多通道高精密LCR测试系统，其特征在于，所述信号测量单元连接有信号转换电路，经过信号转换电路转换的正弦信号经过所述背部连接板分别传输至所述测量CPLD、扫描CPLD上，所述测量CPLD用于测量该信号，所述扫描CPLD用于驱动待测产品。5.根据权利要求4所述的一种多通道高精密LCR测试系统，其特征在于，所述背部连接板连接有平衡转换电路，所述平衡转换电路经过增益调节电路连与所述测量CPLD连接，所述扫描CPLD获取的待测产品反馈的信号传输至背部连接板，在经过平衡转换电路进行转换，转换的信号经过增益电路传输至测量CPLD进行分析。高精密多路阻抗测试机费用。线圈测试机使用方法

一种多通道高精密LCR测试系统，其特征在于，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制；每个所述扫描卡包括扫描CPLD以及通道切换单元，所述扫描CPLD与所述通道切换单元连接，所述扫描CPLD用于接收主控板的信号并控制信号分配，所述通道切换单元通过若干继电器实现对测量通道的切换。中国香港多路LCR测试系统 测试机原理MEMS电容测试机使用方法。

一种多通道数字输出模块 [0006]在本实用新型中，推荐的，所述驱动电路包括场效应管，所述场效应管的栅极接所述隔离器，源极为输出端接入插座P4，源极接24V电源，同时栅极通过电阻R17也接24V电源。[0007]在本实用新型中，推荐的，所述场效应管的栅极与源极之间还串接有保护二极管，所述保护二极管实现对场效应管的过压保护。[0008]在本实用新型中，推荐的，所述主控电路包括主控芯片U1，所述主控芯片U1连接所述隔离器，所述主控芯片U1将控制信号输出传递给所述隔离器。

[0044]本发明通过MCU模块控制测量CPLD产生测量信号，测量信号经过DDS合成单元合成正弦信号，正弦信号通过信号测量单元进行同步采集，经过处理后的正弦信号终分别传输至测量卡和扫描卡中，在测量卡上进行测量，经过扫描卡传输至产品上，用于驱动产品。[0045]具体的，MCU模块包括主控芯片U100，型号为TMS320F2812PGFA，该芯片作为整个系统的控制，用于对整个系统的逻辑控制。其中，主控芯片U100的XA端口、XD端口与测量CPLD的IO端口连接，用于实现主控芯片U100与测量CPLD之间的数据传输。快速LCR测试机具体使用方法。

在本发明中，推荐的，所述扫描卡和测量卡至多可设置13张[0016]在本发明中，推荐的，所述MCU模块包括主控芯片U100，所述主控芯片U100连接有USB单元以及网络通讯单元，所述USB单元用于实现主控芯片U100与外界的USB通讯，所述网络通讯单元用于实现组网。[0017]与现有技术相比，本发明的有益效果是：[0018]本发明的系统通过将每个测量卡配置一个扫描卡，测量板可以任意对应一张扫描卡或者对应多张扫描卡利用扫描卡，通过扫描卡完成多个测量通道的切换，使得测试参数、测量点位多，可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量，提高测量效率。同时，本方案通道切换采用使用高隔离和寄生电容小的继电器，使得整个系统的寄生电容小，提升测量的精度，同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少，提升了测量速度。高精密多通道LCR测试机。安徽高速LCR测试机报价

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[0040]具体的，在本发明中，扫描卡与待测产品连接，通过扫描卡实现测量通道的切换，从而实现多组数据同时测试。在保证系统运行速率的前提下，通过一个主控板至多连接13张测量板和13张扫描板，可实现13张测量板同步测量，测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板，应用灵活。本系统测试参数、测量点位多，可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量，提高测量效率。此外，由于一张扫描卡有40个通道，通道数量较多，因此，本方案扫描卡、测量卡之间的信号传输大部分通过背部连接板进行转接，满足信号的稳定分配与传输的需求。[0041]在本发明中，进一步的，每个所述扫描卡包括扫描CPLD以及通道切换单元，所述扫描CPLD与所述通道切换单元连接，扫描CPLD用于接收主控板的信号并控制信号分配，所述通道切换单元通过若干继电器实现对测量通道的切换。在本方案中，如图14所示，扫描卡选用具有176脚位的扫描CPLD，具体为可编程逻辑器件U300A，型号为LC4256V75TN176I，通过扫描CPLD控制切换测量通道使得可切换的通道多，内部逻辑门电路比较，不会由于外部干扰造成通道切换的错误。线圈测试机使用方法

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