北京芯片开短路测试系统使用方法

时间:2022年09月23日 来源:

4.根据权利要求3所述的一种电机用脉冲输出模块,其特征在于,所述滤波电路包括串联的电阻R50以及电容C49,输入信号连接在滤波电路两端,所述隔离器U10A并联在电容C49两端。5.根据权利要求4所述的一种电机用脉冲输出模块,其特征在于,所述方向隔离输出电路包括串接的第二隔离器和驱动电路,所述第二隔离器输入端连接所述主控电路,所述第二隔离器一输出端串接电阻R64后接电源,另一输出端接所述驱动电路,所述驱动电路一输出端连接插座P5,另一输出端连接电源,其中插座P5连接外部设备。线路板线圈测试系统。北京芯片开短路测试系统使用方法

一种数字信号输入输出模块  

[0010]在本实用新型中,推荐的,所述场效应管的栅极与源极之间还串接有保护二极管R17,所述保护二极管R17实现对场效应管的过压保护。

[0011]在本实用新型中,推荐的,所述主控电路包括主控芯片U1,所述主控芯片U1与所述隔离器连接的输入引脚还通过限流排阻RP14‑RP22接3.3V电源,与所述第二隔离器连接的输出引脚通过限流排阻RP5‑RP13接3.3V电源。

[0012]在本实用新型中,推荐的,所述主控芯片U1还连接有通讯电路,所述通讯电路包括通讯接口RJ1和通讯芯片U2,所述通讯芯片U2与所述主控芯片U1连接,实现数据的交互,所述通讯芯片U2与所述通讯接口RJ1连接,所述接口RJ1用于与电脑连接。


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1.一种高效数字输入模块,其特征在于,包括若干组隔离输入电路、一主控电路以及与主控电路连接的通讯电路,每一所述隔离输入电路对应输入一路感应信号,所述隔离输入电路均包括隔离器U3D和滤波电路,所述滤波电路一端通过插座接输入信号,另一端接隔离器U3D,所述隔离器U3D输出端10引脚接入所述主控电路中,9引脚接地,所述隔离器U3D中的发光二极管两端还反向并联有保护二极管,所述保护二极管用于保护隔离器U3D。

2.根据权利要求1所述的一种高效数字输入模块,其特征在于,所述滤波电路包括串联的电阻R13以及电容C21,输入信号连接在滤波电路两端,所述隔离器U3D并联在电容C21两端。

9.根据权利要求8所述的一种电机用脉冲输出模块,其特征在于,所述主控电路还连接有通讯电路,所述通讯电路包括通讯接口RJ1和通讯芯片U2,所述通讯芯片U2与所述主控芯片U1连接,实现数据的交互,所述通讯芯片U2与所述通讯接口RJ1连接,所述接口RJ1用于与电脑连接。10.根据权利要求7所述的一种电机用脉冲输出模块,其特征在于,所述主控电路还连接有供电电路,所述供电电路包括稳压转换器U8和U9,所述稳压转换器U8用于将电压转换为3.3V的稳定电压供给整体模块使用,稳压转换器U9用于将电压转换为5V的稳定电压供给所述脉冲隔离输出电路使用。多路电感测试系统报价。

一种数字信号输入输出模块  具体实施方式

[0028]除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

[0029]请同时参见图1、图4‑图7,本实用新型一较佳实施方式提供一种数字信号输入输出模块,包括一主控电路以及与主控电路均连接的若干隔离输入组、若干隔离输出组以及一供电电路,供电电路通过限流排阻给主控电路、隔离输入组、隔离输出组供电,隔离输入组接在主控电路的输入端,隔离输出组连接在主控电路的输出端,隔离输入组包括串接的隔离器和滤波电路,隔离输出组包括串接的第二隔离器和驱动电路,隔离器与第二隔离器中的发光二极管两端均反向并联有保护二极管,保护二极管用于保护隔离器与第二隔离器。 苏州陶瓷片电容测试系统。北京芯片开短路测试系统使用方法

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一种数字信号输入输出模块  具体实施方式 

[0035]具体的,场效应管采用QS6K21FRATR系列,其在隔离器无信号传递过来时截止,从而避免干扰信号的无效传递,保护二极管R17有串联反接的两个二极管组成,实现对场效应管的过压保护,从而保证信号的持续稳定传递。[0036]如图2所示,在本实施方式中,主控电路包括主控芯片U1,主控芯片U1与隔离器连接的输入引脚还通过限流排阻RP14‑RP22接3.3V电源,与第二隔离器连接的输出引脚通过限流排阻RP5‑RP13接3.3V电源。

[0037]具体的,主控芯片U1主要采用MSP430F5438IPZ系列控制器,具有多个输入输出通道,可实现同时多个控制信号的输入、转存和输出,其中排阻RP5‑RP22均由4个330R的电阻组成,每一电阻的输入端均接3.3V电压,输出一一对应接各个引脚,通过限流排阻的每个电阻的限流,保护主控芯片U1避免被超过其承受范围的电流烧毁。 北京芯片开短路测试系统使用方法

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