重庆多通道阻抗测试机怎么使用

时间:2023年03月04日 来源:

一种多通道数字输出模块 [0011]在本实用新型中,推荐的,所述主控芯片U1的89和90号引脚连接有晶振电路,所述晶振电路为所述主控芯片U1提供时钟脉冲信号。[0012]在本实用新型中,推荐的,还包括供电电路,所述供电电路包括稳压器U22,所述稳压器U22输入端通过保险丝F1和插座P8连接供电电源,同时保险丝F1与所述稳压器U22之间还分别通过续流二极管D1、钽电容CE6、电容C24接地。[0013]在本实用新型中,推荐的,所述稳压器U22输出端分别通过电容CE4和C22接地进行滤波,同时串联电阻R153、电源指示灯DS1后接地。高精密多通道LCR测试机价格。重庆多通道阻抗测试机怎么使用

一种多通道数字输出模块  具体实施方式 [0025]除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。[0026]请同时参见图1、图5和图6,本实用新型一较佳实施方式提供一种多通道数字输出模块,主要连接在总控制室与地铁、高铁等环境下的多个设备之间,将总控制室内的控制信号无干扰地传递给设备,以实现总控制室对各设备工作状态的控制,包括若干隔离输出电路以及与隔离输出电路连接的主控电路,每一隔离输出电路对应输出一路控制信号,每一隔离输出电路包括隔离器和驱动电路,隔离器输入端连接主控电路,隔离器一输出端串接电阻R13后接24V电源,另一输出端接驱动电路,驱动电路一输出端连接插座P4,另一输出端连接24V电源,其中插座P4连接外部设备。广西多通道电感测试机生产厂家TP Sensor多排板测试机报价。

一种多通道高精密LCR测试系统  本发明涉及LCR测试技术领域,公开了一种多通道高精密LCR测试系统,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。本系统实现多张测量板同步测量,测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板,应用灵活。

一种多通道高精密LCR测试系统,其特征在于,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制;每个所述扫描卡包括扫描CPLD以及通道切换单元,所述扫描CPLD与所述通道切换单元连接,所述扫描CPLD用于接收主控板的信号并控制信号分配,所述通道切换单元通过若干继电器实现对测量通道的切换。多通道电容测试机做做原理。

一种多通道高精密LCR测试系统 具体实施方式[0036]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。[0037]需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。多路LCR测试系统 测试机。河北药剂分类测试机原理

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[0042]其中,如图15所示,通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路,所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器,所述继电器与所述扫描CPLD连接,以其中一例进行说明,切换电路包括继电器RY600,继电器RY600的1脚接+5VD电源,2脚与扫描CPLD的116脚连接,3脚连接至插排上实现信号的转接,通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平,实现对该通道的控制。如此,整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。[0043]在本发明中,进一步的,如图4所示,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。重庆多通道阻抗测试机怎么使用

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