山西手动探针台报价

时间:2021年06月21日 来源:

探针台是用于检测每片晶圆上各个芯片电信号,保证半导体产品品质的重要检测设备。下面我们来了解下利用探针台进行在片测试的一些相关问题,首先为什么需要进行在片测试?因为我们需要知道器件真正的性能,而不是封装以后的,虽然可以去嵌,但还是会引入一些误差和不确定性。因为我们需要确定哪些芯片是好的芯片来降低封装的成本并提高产量。因为有时我们需要进行自动化测试,在片进行自动化测试成本效益高而且更快。一个典型的在片测试系统,主要包括:矢量网络分析仪,线缆,探针,探针定位器,探针台,校准设备及软件,电源偏置等。探针卡是自动测试仪与待测器件之间的接口。山西手动探针台报价

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关于探针:探针实现同轴到共面波导转换,探针需要保证一致性和兼容性,同时需要严格的控制其阻抗。板手动探针台在测试中非常受欢迎。它是精密和灵活性的独特组合,可实现PCB 的横板或竖板的测量,并能扩展成双面PCB 板测试系统,也可以根据客户的PCB 板尺寸定制可调式夹具。搭配相应探针座与高精度电源或网络分析仪后,能够轻松实现FA 级别的直流参数提取或67G 内的射频参数测量。探针台可根据用户实验,选配DC、微波或光纤探针臂等。上海勤确科技有限公司。湖南控温探针台生产厂家焊针时,应凭自己的经验,把针尖离压点中心稍微偏一点。

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探针台的使用:1、将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4、显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,后则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。

如果需要一款高量测精度的探针台,并不是有些厂商单纯的认为,通过简单的机械加工加上一台显微镜就可以完成,我们在探针台设备的研发中有着近二十年的经验,并有着精细机械加工的技术能力,可以为您提供高准确的探针台电学检测仪器,同时我们与世界电学信号测试厂家有着多年的合作,可以提供各类电学测试解决方案。在对射频设备进行原型设计和测试时,很多情况下,在电路的非端口位置进行测试有助于优化设计或者故障排除。然而实际操作中,在较高的频率下进行测试是一项更大的挑战。探针台存放在氮气柜中,防止探针的加快氧化。

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探针台主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格的芯片,并提供多个可调测试及探卡测试针台座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性,材料被分为像铜一样导电的导体,像陶瓷一样不导电的绝缘体,还有导电性介于两者间的半导体。近,“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。尽管随着探针压力的增强,接触电阻逐渐降低,终它会达到两金属的标称接触电阻值。青海测试芯片探针台服务

探针材质、探针直径、光束长度、和尖锥长度都在决定顶端压力时起重要的作用。山西手动探针台报价

在实际的芯测试中探针卡的状态是非常重要的,如探针氧化,触点压力、以及探针台的平整度,探针尖磨损和污染都会对测试结果造成极大的负面影响,这些常见故障是如何形成的,而我们应该如何避免:如果是集成电路的问题,就需要将坏的集成电路拆卸下来,将替换的集成电路安装上去。很多现代大规模集成电路的封装往往是BGA封装,手工拆卸几乎不可能,需要专门的仪器。可见,集成电路如果在PCB阶段才测试出问题,对生产的影响高于单片的阶段。对于复杂的设备,如果在整机阶段才发现集成电路的问题,其影响更是巨大。因此,集成电路生产时的测试具有很重要的意义。山西手动探针台报价

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