湖州I3C分析仪

时间:2024年04月11日 来源:

    终比较结果将对“差分信号高于Vref还是低于Vref?”的问题作出解答:对眼隙的eyescan测量是通过使用不同Vref设置进行一系列eyefinder测量完成的。差分信号的默认eyefinder测量使用Vref=0V。通过将Vref增至零以上。欧奥电子是Prodigy在中国区的官方授权合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS总线协议分析仪测试解决方案不会收到EAR进出口方面的管制。同时还有代理其他总类的协议分析仪,包括嵌入式设备用的SDIO协议分析仪,QSPI协议分析仪及训练器,I3C协议分析仪及训练器,RFFE协议分析仪及训练器等等。我司还有代理SPMI协议分析仪及训练器,车载以太网分析仪,以及各种相关的基于示波器的解码软件和SI测试软件。同时,欧奥电子也有提供高难度焊接,以及高速信号。如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速协议抓取和分析的服务。我们会找到信号与上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足够高,信号的顶部轨迹将通过Vref,我们便会看到眼的顶端。再将Vref升高一点会导致Vcomp保持在Vlo,表示信号不会升至该电之,将Vref移至零以下会看到眼的下半部。eyescan/eyefinder显示窗口会在每个信号的eyescan图下方显示eyefinder交叠部分,以此显示eyefinder与eyescan之间的这一关系。eMMC协议分析仪/训练器厂家就找欧奥!湖州I3C分析仪

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    就无法区分给定信号转变区域是与时钟上升沿相关联,还是与下降沿(或两者)相关联。眼定位工作原理:通过逻辑分析仪使用少量的偏移延迟对每个通道进行双重采样的功能,以及通过使用独有的OR操作比较延迟的样本可进行眼定位测量。图14眼定位工作原理当独有的OR输出很高时,延迟的样本会有所差别,并且会在延迟时间之间检测到转变。由于采样信号的不稳定和其他变化,眼定位测量将对每对延迟值的多个时钟进行检查,以便报告两次延迟时间之间发生转变的频率。然后,检查另一对延迟值,依次类推,直到扫描完转变的整个时间范围。图15延迟值记录因为逻辑分析仪可以调整通道的阈电压,所以眼定位测量可在很多阈电压电平随着时间的推移对转变进行重复扫描。图16眼定位的多阈值扫描通过调整阈电压和查看活动指示符,眼定位可查找信号活动信封并确定佳阈电压;然后通过在该阈值执行全时扫描,眼定位可找出样本位置。图17眼定位的阈值和采样位置扫描也可以在当前阈电压设置下运行全时扫描,以便自动设置采样位置。图18扫描采样位置自动阈值和采样位置设置扫描通常足以确保正确采集数据,但它还可以识别您想要进一步详细查看的信号(例如,如果您想查看延迟、衰减等)。惠州分析仪找哪家USB PD,3.1, 3.0,2.0协议分析仪/训练器找欧奥!

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    序列的每个步骤被称为一个序列步骤。每个序列步骤由两部分组成:条件和操作。条件是指布尔逻辑表达式,例如“IfADDR=1000”或“IfthereisarisingedgeonSIG1”。操作是指符合条件时逻辑分析仪应当执行的内容。操作的示例包括触发逻辑分析仪、转至另一序列步骤以及启动定时器。这类似于编程中的If/Then语句。触发序列中的每个步骤都被指定一个数字。执行的个序列步骤总是序列步骤1,但由于“转到”操作,剩余的序列步骤可以以任意顺序执行。执行一个序列步骤且布尔逻辑表达式均为假时,逻辑分析仪将采集下一样本并再次执行同一序列步骤于“KeepacquiringmoresamplesuntilDATA=7000,thentrigger”。如果符合一个序列步骤中的布尔逻辑表达式,那么在执行下一序列步骤之前总是采集另一样本。换句话说,如果一个样本符合序列步骤1的条件,在执行序列步骤2前将采集另一样本。这意味着一个单独的样本不可能符合多个序列步骤的条中的条件二者之间采集了新的样本,因此逻辑分析仪不会在采集样本#1时触发。可将此触发序列看作是“FindADDR=1000followedbyDATA=2000andthentrigger”。触发序列中的多序列步骤暗示了“后接”。逻辑分析仪触发后,将不会再次触发。换句话说。SDIO协议分析仪/训练器找欧奥!

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    捕获总线上传输的这些信息,并把需要的信息存入存储器。可设置触发条件,捕获需要关注的或出问题的总线上的信息,据此可了解协议或软件执行的情况。上面已经简短讨论了逻辑分析仪的一些用法,现在,让我们更详细地了解一下有关逻辑分析仪的概念。到目前为止,我们已经很地使用了“逻辑分析仪”这一术语。实际上,多数逻辑分析仪中都包含两个分析仪。1.定时分析仪:定时分析仪是逻辑分析仪的一部分,它与示波器相似。事实上,它们之间的关系非常密切。定时分析仪显示信息的一般形式,这一点与示波器相同,即横轴表示时间,纵轴表示电压振幅。因为两个仪器上的波形都取决于时间,所以这种显示可以说是“时间域”中的显示。2.状态分析仪:状态分析仪非常适用于跟踪软件中的缺陷或硬件中的缺陷组件。它有助于确定问题是出现在软件代码中还是出现在某些硬件设备中。多数情况下,状态分析仪用于在出现特定时钟信号时查找总线上存在哪些逻辑电平。换句话说,可以了解在时钟出现且假设数据有效时将显示哪些“活动状态”。内存中采集的数据将以列表格式显示,且带有连接到各个状态的时间标签。定时分析定时分析仪使用自己的内部时钟控制数据采样。HDMI,MHL协议分析仪/训练器找欧奥!惠州分析仪找哪家

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    因为传递过来的信号幅度比较小。图23探头的信号完整性考虑探头的负载效应主要分为两种类型:直流负载和交流负载。直流负载:探头看起来象一个对地的直流负载,一般是20K欧姆。如果被测总线具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉电阻较),这个负载可能会导致逻辑错误。直流负载主要由探头尖的电阻决定,这个电阻阻值越,直流负载越小,阻值越小,直流负载越。交流负载:探头包含寄生电容和电感。这些寄生参数会减小探头带宽和导致信号反射。我们需要在被测电路接收端和探头尖处考虑信号完整性。探头带宽被降低主要来自2个方面:探头电容和探头与目标连接的连线的电容。探头导致信号反射的原因是4个方面:探头电容和电感。探头在被测总线上的探测位置;总线的拓扑结构;探头和目标间连线的长度。对于交流负载,我们需要考虑:探测点在传输线的位置,总线的拓扑结构和探头和目标间连线的长度。探头的负载除了可以用复杂的Spice模型仿真分析外,也可以用简单的RC模型简单预估负载效应。下图是典型探头的RC模型。图24常用探头的RC模型我们需要仔细考虑探头和目标之间的连线。为了可靠的电气连接,有三种方式可选择:短线探测(StubProbing),阻尼电阻探测。湖州I3C分析仪

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