北京新一代AOI光学检测仪
照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源,特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源,一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大,灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源,比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理,检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段,因材料成分与红外光谱有对应关系的原理,红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用,甚至可以实现成分分析。特殊光源中,利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化,利用光学干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷检测中的得到了应用,例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差,可以测量出被测物体与参考物体之间的差异,且分辨率与精度为可以达到亚波长。 AOI集成了图像传感技术、运动控制技术,AOI检测仪在产品生产过程中可以执行测量、识别和引导等一系列任务。北京新一代AOI光学检测仪
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基本的AOI技术包含下列子系统:高速高精度XY方向的运动控制系统;机械光学系统;高精度高可靠性图像采集系统;智能图像识别与错误检测系统。这些子系统构成了一个与多维测量和错误检测密切相关的设备。注意到AOI识别是机器视觉在印刷电路板领域的具体应用,换言之,印刷电路板的缺陷检测实质上是属于模式识别的范畴。它将PCB上的不同缺陷视为不同的模式类,从采集到的图像信号中提取和选择特征,根据特征向量构造判别函数,进行缺陷分类,即模式识别。识别算法的好坏直接影响到智能图像识别系统的性能,进而影响整个AOI系统的性能。从机器视觉的发展来看,目前在AOI上面至少可以完整地应用以下的视觉识别算法。
模板匹配就是先设定已知模板,已知模板是AOI检测中没有缺陷的实物影像或较小重复单元影像,通常情况下PCBAOI检测中以实物影像为已知模板,FPDAOI检测中则是较小重复单元。将采集到的图像与模板影像进行重合比对,然后平移到下一个单元进行同样比对,出现灰阶有差异的部分就被怀疑为缺陷,这里我们给灰阶差异设定一个阈值,当灰阶差超过设定阈值后,就被判定为真正的缺陷。从细节上讲,阈值的设定过于严格出现误判的概率就会增加,而阈值设定过于宽松漏检出的概率就会增加,因此,被检测物体的特征提取可以提高比对的对位精度,进而对检测结果起到了决定性的作用。 AOI照明系统给被检测的元器件以360度多方位照明。
AOI图像采集的然后一个关键步骤是控制系统,光电传感器的FOV(视窗)有限,物体高速运动中准确地抓拍到清晰的图像,软硬件协调动作非常重要,如下图所示,当图像传感器与机台移动速度不匹配时造成图像的拉伸,收缩等变形,所以,载物移动平台XY方向移动与图像采集光电传感器的同步移动影响到数据的准确,要在固定光照,等间距下拍摄一幅清晰的图像,高精度的导轨,电机和运动控制程序是非常必要的。数据处理阶段(数据分类与转换)数据处理阶段是图像的预处理阶段,是采集图像的加工处理过程,为图像比对提供准确可靠的图片信息,主要包含了背景噪音减少,图像增强和锐化等过程。图像背景噪音减小一般为图像的低通滤波平滑法,图像增强和锐化则是提高被检测特征的对比度,突出图像中需要关注的特征,忽略不需要关注的部分,方法是图像二值化处理,经过二值化处理的图像数据量明显减少,能凸显出需要关注的轮廓。 爱为视新一代智能插件AOI,采用卷积神经网络、先进深度学习模型,计算机视觉、图形图像处理等技术。AOI检测设备
采用高分辨率工业相机和智能图像分析,检测电子电路板上插件元器件多、错、漏、反等缺陷。北京新一代AOI光学检测仪
AOI检测设备在SMT生产线上位置有几种?⑴、AOI检测设备可以放在生产线锡膏印刷机的后方,用于检测锡膏印刷的桥接、偏位、无锡、少锡、多锡、异物问题。⑵、AOI放在贴装机后方,可用于检测表面贴装是否存在桥接、错件、缺件、极性、偏位、立碑、反转、破损、IC弯脚、异物等问题。用作DIP炉前AOI,可以检测类型DIP是否存在缺件、多件、破损、反向、偏移、歪斜、错件、XY偏移等缺陷。⑶、AOI可放在回流焊后方,主要用于检测回流焊后PCB板上的错件、缺件、极性、偏位、立碑、反转、破损、IC弯脚、异物、无锡、少锡、多锡、桥接、假焊、锡球。如果是放在波峰焊之后,则可以检测出PCB板上的插入针、无锡、少锡、多锡孔洞、假焊、锡球问题。 北京新一代AOI光学检测仪
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