杭州大学zeta电位仪方法

比较高浓度Zeta电位测量过程中的散射光在向前的角度收集，因此激光应该保证能够穿过样品。如果样品的浓度过高，则激光将会由于样品的散射衰减很多，相应的降低检测到的散射光光强。为了补偿此影响，衰减器会让更过的激光通过。较终，样品的浓度范围必须由测定不同浓度下的Zeta电位的试验决定，由此来得到浓度对Zeta电位的影响。3.稀释介质大多数样品的分散相，可以归于以下两类：1）介电常数大于20的分散剂被定义为极性分散剂，如乙醇和水。zeta电位仪如何选择？上海艾飞思告诉您。杭州大学zeta电位仪方法

粒子的尺寸越大所产生的散射光越强，所需的浓度也就越低。对于折光指数差较大的样品，譬如TiO2粒子的水性悬浮液，TiO2的折光指数为，与水的折光指数差较大，有较强的散射能力。因此对于300nm的TiO2粒子，较小浓度可以为10-6w/v%。对于折光指数差很小的样品，比如蛋白质溶液，比较低浓度会高很多。通常比较低浓度需要在w/v%之间才能有足够的散射光强进行Zeta电位测量。较终，对于特定样品进行一个成功的Zeta电位测量的比较低浓度，应该由试验实际测量得到。苏州转让zeta电位仪方法上海 zeta电位仪的规格介绍。

   Zeta电位是纳米材料的一种重要表征参数。现代仪器可以通过简便的手段快速准确地测得。大致原理为：通过电化学原理将Zeta电位的测量转化成带电粒子淌度的测量，而粒子淌度的测量测是通过动态光散射，运用波的多普勒效应测得。Zeta电位与双电层粒子表面存在的净电荷，影响粒子界面周围区域的离子分布，导致接近表面抗衡离子（与粒子电。荷相反的离子）浓度增加。于是，每个粒子周围均存在双电层。围绕粒子的液体层存在两部分：一是内层区，称为Stern层，其中离子与粒子紧紧地结合在一起；另一个是外层分散区，其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。

    分子量测量原理：静的光散射法（光子相关法）静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。测量原理指的是用光照射溶液中分子，根据所得的散射光的值求出分子量。即，利用了大分子所得散射光强，小分子所得散射光弱的现象进行测量。实际上，浓度不同，所得的散射光強度也不同。因此，要实测数点的不同浓度的溶液散射強度，并根据以下公式，横轴设为浓度，纵轴设为散射強度的倒数，Kc／R（θ）为plot。这被称作Debyeplot。浓度为零，外插切片（c=0）的倒数，并求出分子量Mw，根据初期斜面求出第二维里系数A2。分子量为大分子时，散射強度出现角度依存性，通过测量不同的散射角度（θ）的散射强度，可知出分子量的测量精度提高，及分子大范围的指标的惯性半径。角度固定测量时，输入推算的惯性半径，并对角度依存测量进行相应的补正，便可提高分子量的测量精度。 上海 zeta电位仪的价格分析。

为了满足现代新材料、新工艺的发展，粉体在生产应用的过程中，往往都需要根据需求有目的地利用有机改性剂改善粉体表面的物理化学性质——如让无机矿物由一般增量填料变为功能填料；提高涂料中颜料分散性，改善涂料性能；提高颗粒的分散性，防止颗粒团聚等。粉体改性的方法主要有表面物理涂覆、化学包覆、无机沉淀包覆或薄膜、机械力化学、化学插层等，其中表面化学包覆改性法是目前较常用的粉体表面改性方法，它利用有机表面改性剂分子中的官能团在颗粒表面吸附或化学反应而对颗粒表面进行改性。上海 zeta电位仪的代理厂家。杭州大学zeta电位仪方法

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介电常数小于20的分散剂被定义为非极性或低极性分散剂，如碳氢化合物类、高级醇类。多数样品要求稀释，稀释介质对于检测结果的可靠性是非常重要的。Zeta电位依赖于分散相的组成，因为它决定了粒子表面的特性。所给出的测量结果，如没有提及所分散的介质，则是没有太大意义的。如何保证稀释后样品表面状态不变？制备样品较关键的地方，是在稀释过程中，保留纳米颗粒表面的真实状态。比较好的办法就是即通过过滤或离心原始样品，得到清澈的分散剂，使用这种分散剂稀释原有浓度样品。杭州大学zeta电位仪方法