上海固体zeta电位仪方法

时间:2023年04月07日 来源:

目前市面上典型的厂家有美国DT,美国MAS。电声法:此方法优势有:样品无需稀释,原液进行测试分析样品的粒径和zeta电位值,更加准确表征样品本身状态。测试结果重复性比较好。一般在±。可以测试微观参数,如德拜长度,杜坎数,双电层的面电荷密度等。流动电位法以上两种方法主要是测试液体的zeta电位,有很多客户需要测试固体表面的zeta电位,中空纤维内部的zeta电位,膜表面的zeta电位等如下图各式样品,此时即需要流动法来进行测试。即在样品池中加入样品,在一定压力梯度下将缓冲液推入样品池,缓冲液会带动样品表面的电荷流向样品池两边的电极,测试得到电压值。上海 zeta电位仪的批发厂家。上海固体zeta电位仪方法

主要特点1、仪器采用新设计的新型简便的电泳池,采用,电极内置在池内。电泳杯与内置电极经精密的微流场计算、表面处理,组成一套与传统的电泳池完全不一样电泳装置。测试时样品用量极少,每次止,易于清洗,使用方便,经济实用。2、采用经过精心设计的电极支架,与电泳杯紧密配合,形成一个杯形开放式电泳装置,电极采用银、铂和钛金属丝制成,经表面处理后工作状态稳定。3、制作精良的十字标,置入电泳杯后放在三维平台上,调整三维平台,在计算机屏幕看到清晰的十字图像,便找到测定位置,没有静止层问题。4、采用半导体发光近场光学系统,功率止几十微瓦,不会因发热而影响测量环境和测量精度,并调整了光学系统,加大了放大倍率。苏州环保zeta电位仪使用手册Zeta电位仪的主要特点。

当这两种对抗力达到平衡时,粒子以恒定的速度运动,我们一般称这个速度通为电泳迁移率。电渗法-单位场强下的液体移动速度称为电渗速度。液体的电渗速度与固液两相间的ξ电势成简单的正比关系,所以可以利用电渗来测量ξ电势,但此法只限于能形成毛细管或多孔介质的材料。Zeta电位是连续相与附着在分散粒子上的流体稳定层之间的电势差。它可以通过电动现象直接测定。测量Zeta电位的方法主要有:电泳法-当电场施加于电解质时,悬浮在电解质中的带电粒子被吸引向相反电荷的电极,作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动。

Zeta电位测量采用电泳光散射(ELS)原理,通过测量颗粒在电场中的运动速度进而得到zeta电位。一般来说,zeta电位越高,颗粒之间相互排斥越剧烈,分散体系越稳定。纳米粒度分布采用动态光散射(DLS)原理,颗粒在悬浮液中进行布朗运动,较小颗粒的移动速度快于较大颗粒,在某个角度检测记录散射光强,散射光强的相关曲线体现了颗粒的移动速度,利用这些信息可以计算颗粒的粒度分布。分子量测量采用静态光散射(SLS)原理,散射光的强度与分子量直接相关。测量不同浓度中测量散射光强,绘制德拜曲线即可得到样品分子量。主要应用领域:包括纳米金属氧化物、水处理、纳米金属粉、纳米陶瓷材料、蛋白质、聚合物胶乳、药物制备、水/油乳液、油漆、涂料、颜料、油墨、调色剂、化妆品以及其它所有纳米材料研究、纳米材料制备与纳米材料应用等领域。良好的重复性:稳定的折叠光路系统高速数据采集与转换模块高精度样品池定位组件良好的准确性:粒度测试准确性:用100nm标准样品测试,结果为101nm,误差范围为1%,远远小于国际标准ISO13321允许误差10%的要求。Zeta电位测试准确性:用-55mv标准样品测试,结果为,误差范围为,小于国际标准ISO13099允许误差10%的要求。上海 zeta电位仪的代理厂家。

根据Stern双电层理论可将双电层分为两部分,即Stern层和扩散层。当分散粒子在外电场的作用下,稳定层与扩散层发生相对移动时的滑动面即是剪切面,该处对远离界面的流体中的某点的电位称为Zeta电位或电动电位(ζ-电位)。Zeta电位测量方法有哪些Zeta电位又叫电动电位或电动电势(ζ-电位或ζ-电势),是指剪切面(ShearPlane)的电位,是表征胶体分散系稳定性的重要指标。由于分散粒子表面带有电荷而吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布而形成扩散双电层。zeta电位仪的特点是什么?上海艾飞思告诉您。杭州电声法zeta电位仪厂家

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Zeta电位[mV]胶体稳定性0到±5,快速凝结或凝聚±10到±30开始变得不稳定±30到±40稳定性一般±40到±60较好的稳定性超过±61稳定性极好Zeta电位的主要用途之一就是研究胶体与电解质的相互作用。由于许多胶质,特别是那些通过离子表面活性剂达到稳定的胶质是带电的,它们以复杂的方式与电解质产生作用。与它表面电荷极性相反的电荷离子(抗衡离子)会与之吸附,而同样电荷的离子(共离子)会被排斥。因此,表面附近的离子浓度与溶液中与表面有一定距离的主体浓度是不同的。靠近表面的抗衡离子的积聚屏蔽了表面电荷,因而降低了zeta电位。Zeta电位的测量使我们能够详细了解分散机理,它对静电分散控制至关重要。上海固体zeta电位仪方法

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