无锡环保zeta电位仪方法

时间:2023年12月14日 来源:

Zeta电位测量方法有哪些Zeta电位又叫电动电位或电动电势(ζ-电位或ζ-电势),是指剪切面(ShearPlane)的电位,是表征胶体分散系稳定性的重要指标。由于分散粒子表面带有电荷而吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布而形成扩散双电层。根据Stern双电层理论可将双电层分为两部分,即Stern层和扩散层。当分散粒子在外电场的作用下,稳定层与扩散层发生相对移动时的滑动面即是剪切面,该处对远离界面的流体中的某点的电位称为Zeta电位或电动电位(ζ-电位)。Zeta电位分析仪的工作原理及特点。无锡环保zeta电位仪方法

粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)溶液中的粒子会呈现出依赖于粒径的布朗运动。因此,当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。通过光子相关法解析这种浮动,从而求出粒径或粒度分布。ZETA电位测量原理:电气泳动光散射法(激光多普勒法)对溶液中的粒子施加电场,便可观测到粒子所带电荷的电气泳动。因此,可从此电气泳动速度中求出ZETA电位・电气泳动移动度。电气泳动光散射法,是用光照射做电气泳动的粒子,根据所得到的散射光的多普勒转换量求电气泳动度。因此,也被称作激光多普勒法。电气浸透流实测的优点所谓电气浸透流指的是ZETA电位测量中,在cell内引起的溶液的流动的现象。如果cell壁面带电,溶液中的对离子会集中到cell壁面。如果带有电场,对离子会集中到反向符号的电极侧。为了填补其流动,在cell附近区域会出现逆流现象。实测粒子表面的电气泳动移动速度,通过解析电气浸透流,求出正确的静止面,当然此静止面已包括了样品的吸附或沈降等的cell污迹的影响,然后求出真正的ZETA电位・电气泳动移动度。南京大学zeta电位仪测试过程zeta电位仪怎么选用适合自己的?

超声电声法-在胶体溶液两侧施以电压,带点粒子运动会产生声波,测量所产生的声波,就可以计算颗粒的动态迁移率,然后通过计算得到Zeta电位颗粒过滤系统可能受益于较低的Zeta电位水平,因为聚集颗粒更容易去除。Zeta电位仪是华东师范大学与上海中晨数字技术设备有限公司合作在94年推出的新一代测试仪器的改进型,广泛应用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋化学等行业,也是化学、化工、医学、建材等专业的重要教学仪器之一。Zeta电位仪是华东师范大学与上海中晨数字技术设备有限公司合作在94年推出的新一代测试仪器的改进型,新产品由新型的光学系统、电泳池、数据采样和数据处理等部分组成,实现了由PC个人微机对采样模块的控制及后期数据处理的一体化设计,与其它同类产品相比,它具有更多的优异性能。

当采用了无机分散剂(三聚磷酸钠,焦磷酸钠)对粉体进行改性时,改性剂电离成离子吸附于颗粒表面,颗粒表面形成一种双电层的结构,使其表面电荷密度提高,通过表面同种电荷斥力作用,克服了颗粒间的范德华吸引力,实现分散效果。通过对比粉体颗粒表面改性前后的表面荷电性质的变化,就可以用于衡量粉体改性的效果。很显然通过这种方式进行检测,也并不能得出较准确的答案。ZETA电位是指剪切面的电位,又叫电动电位或电动电势,是表征胶体分散系稳定性的重要指标,也可以用来评价粉体改性效果。例如说在固/液悬浮体系中,由于粒子表面电荷的存在,形成了双电层结构和Zeta电位。粒子间静电斥力的大小取决于Zeta电位,而Zeta电位取决于粒子的表面电荷以及电荷密度,电荷密度越高,Zeta电位越高。zeta电位仪的运用方式。

目前测量Zeta电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法,其中以电泳法应用较广。Zeta电位的重要意义在于它的数值与胶态分散的稳定性相关。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量。分子或分散粒子越小,Zeta电位(正或负)越高,体系越稳定,即溶解或分散可以抵抗聚集。反之,Zeta电位(正或负)越低,越倾向于凝结或凝聚,即吸引力超过了排斥力,分散被破坏而发生凝结或凝聚。Zeta电位与体系稳定性之间的大致关系如下表所示。Zeta电位[mV]胶体稳定性0到±5,快速凝结或凝聚±10到±30开始变得不稳定±30到±40稳定性一般±40到±60较好的稳定性超过±61稳定性极好Zeta电位的主要用途之一就是研究胶体与电解质的相互作用使用zeta电位仪前的安全检查。苏州膜材料zeta电位仪适用范围

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分子量测量原理:静的光散射法(光子相关法)静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。测量原理指的是用光照射溶液中分子,根据所得的散射光的值求出分子量。即,利用了大分子所得散射光强,小分子所得散射光弱的现象进行测量。实际上,浓度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要实测数点的不同浓度的溶液散射強度,并根据以下公式,横轴设为浓度,纵轴设为散射強度的倒数,Kc/R(θ)为plot。这被称作Debyeplot。浓度为零,外插切片(c=0)的倒数,并求出分子量Mw,根据初期斜面求出第二维里系数A2。分子量为大分子时,散射強度出现角度依存性,通过测量不同的散射角度(θ)的散射强度,可知出分子量的测量精度提高,及分子大范围的指标的惯性半径。角度固定测量时,输入推算的惯性半径,并对角度依存测量进行相应的补正,便可提高分子量的测量精度。无锡环保zeta电位仪方法

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