扬州颗粒zeta电位仪测量粒径

时间:2024年02月25日 来源:

zeta电位测试仪,米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小;激光粒度仪是一种根据光的散射原理来测量粉体颗粒大小的精密仪器,集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点,现已成为流行的粒度测试仪器,尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。zeta电位仪使用时的注意事项。扬州颗粒zeta电位仪测量粒径

电解聚合物(聚苯乙烯磺酸钠、多羧酸等)功能研究,控制造纸和生产纸浆过程研究,纸浆添加剂研究。围绕粒子的液体层存在两部分:一是内层区,称为Stern层,其中离子与粒子紧紧地结合在一起;另一个是外层分散区,其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。在分散层内,有一个抽象边界,在边界内的离子和粒子形成稳定实体。当粒子运动时(如由于重力),在此边界内的离子随着粒子运动,但此边界外的离子不随着粒子运动。这个边界称为流体力学剪切层或滑动面(slippingplane)。在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。Zeta电位与胶体的稳定性(DLVO理论)在1940年代Derjaguin,Landau,Verway与Overbeek提出了描述胶体稳定的理论,认为胶体体系的稳定性是当颗粒相互接近时它们之间的双电层互斥力与范德瓦尔互吸力的净结果。苏州泥沙zeta电位仪使用手册上海zeta电位仪的价格是多少?

介电常数小于20的分散剂被定义为非极性或低极性分散剂,如碳氢化合物类、高级醇类。多数样品要求稀释,稀释介质对于检测结果的可靠性是非常重要的。Zeta电位依赖于分散相的组成,因为它决定了粒子表面的特性。所给出的测量结果,如没有提及所分散的介质,则是没有太大意义的。如何保证稀释后样品表面状态不变?制备样品较关键的地方,是在稀释过程中,保留纳米颗粒表面的真实状态。比较好的办法就是即通过过滤或离心原始样品,得到清澈的分散剂,使用这种分散剂稀释原有浓度样品。

美国MAS(MassAppliedSciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等。超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同,导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布可通过搅拌或者流动的形式直接测量未稀释、或不透明样品上等高浓度的样品;zeta电位仪到底是什么?

在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。Zeta电位与胶体的稳定性(DLVO理论)在1940年代Derjaguin,Landau,Verway与Overbeek提出了描述胶体稳定的理论,认为胶体体系的稳定性是当颗粒相互接近时它们之间的双电层互斥力与范德瓦尔互吸力的净结果。此理论提出当颗粒接近时颗粒之间的能量障碍来自于互斥力。当颗粒有足够的能量克服此障碍时,互吸力将使颗粒进一步接近并不可逆的粘在一起。Zeta电位可用来作为胶体体系稳定性的指示:如果颗粒带有很多负的或正的电荷,也就是说很高的Zeta电位,它们会相互排斥,从而达到整个体系的稳定性上海 zeta电位仪的价格分析。南京污水zeta电位仪测量粒径

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激光粒度仪:1、采用折叠光路设计,结构紧凑美观,并采用高精度全铝合金光学平台,确保光路稳固可靠。zeta电位测试仪,2、采用长焦距的傅立叶透镜,有效焦距550mm,很大增强仪器对大颗粒测量的测试能力,使得测试上限达2000微米。3、单镜头设计,采用透镜后傅立叶变换结构,突破傅立叶透镜的光瞳制约,使大接收角不受傅立叶镜头口径限制。4、探测通道数多达98个,由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统,zeta电位测试仪,大探测角140度,小探测角,结合蓝光散射信号,实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收。扬州颗粒zeta电位仪测量粒径

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