手持式发射率测量仪方案

    请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时，我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法，详情敬请咨询我司。 D&S 微型数字伏特计，型号RD1。手持式发射率测量仪方案

    参数介绍|半球发射率AE1/RD1：AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径不小于（）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品直径不小于（），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，可来上海明策咨询！ 全国发射率测量仪介绍GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。

校准AE1/RD1:1、设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到0.00，如下图所示.Dothissteponlyifrequired.2、把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3、把探头放在高发射率标定块上（下图）然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。

测量方法介绍辐射积分法：漫射光照射被测物表面，利用多个探测器探测一定角度上不同波段的发射辐射能，加权计算得到被测物表面太阳反射比的方法。***光谱法：将试样放置于积分球中心位置，通过测试试样在规定波长上的***光谱发射比，计算试样太阳光反射比的方法。相对光谱法：通过测试试样在规定波长上相对于标准白板的光谱发射比，计算试样太阳反射比的方法。光纤光谱仪：采用光纤作为信号耦合器件，将试样反射光耦合到光谱仪中进行光谱分析测定试样反射比的仪器。上海明策不仅提供仪器与方案，更有现场专业服务！DS半球发射率AE1/RD1我们有全新现货。可以提供一次测试服务。反射率有太阳光谱反射率测量仪SSR-ER、TESA2000反射率测量仪等。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应。

校准AE1/RD11．设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到0.00，2．把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3．把探头放在高发射率标定块上，然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。D&S AERD半球发射率测定仪，可快速测量各种固体表面的发射率。手持式发射率测量仪工作原理

原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。手持式发射率测量仪方案

    校准AE1/RD1:1.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到，如下图所示.Dothissteponlyifrequired2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝，使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 手持式发射率测量仪方案

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