上海明策发射率测量仪参数

    AE1RD1发射率测量仪，可以应用于建材反射隔热涂料，满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。AE1/RD1发射率测量仪包含：AE1测量头、两个高发射率标定块、两个低发射率标定块、热沉装置、小目标适配器（含铝配件）、大曲率测量适配器、通用100/240v50~60Hz电缆和电源、标准模块化电源线、数字显示仪表RD1、手提箱、CD。AE1RD1发射率测量仪|高性价比、易操作，AE1RD1发射率测量仪，可以应用于建材反射隔热涂料，满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。 AE1发射率仪：发射率仪、电源线加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。上海明策发射率测量仪参数

AE1/RD1可选配件（用于AE1型发射率计）发射率测量仪适配器—型号AE-AD3。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为1.0英寸（2.54厘米）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。发射率测量仪适配器—型号AE-AD1。AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸（3.8厘米）的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量，或者测量小于直径2.25英寸（5.7cm）的区域。发射率测量仪端口适配器—型号ADP。AE-ADP端口内径为1.5英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸，具有低导热性的材料，大曲率圆柱形表面（>2英寸）粗糙或纹理表面。材料发射率测量仪服务价格把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数。

    发射率测量仪适配器—型号AE-AD3(用于AE1型发射率计)。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为（）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。适配器通过两根尼龙螺丝固定在仪表的位置上。从项圈上，适配器延伸到一个，然后到一个锥形部分，其末端是测量端口。管的内部被高反射和镜面材料覆盖。该反射材料引导检测器和样品之间的热辐射交换，使得仪器被校准以读取样品的发射率。适配器的铝配件也包括在内。它安装在发射探测器上，以便在使用适配器时保持稳定。检测器必须与测量标准块和表面测量的表面保持水平。

美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，具有如下优点：重复性:±0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠:相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。

发射率测量仪可用于航天热控涂层所谓的热控涂层简单的说就是两个字—保温，让升上天的那些航空元器件不至于暴露在**温环境下损坏。发射率测量仪这时候就很重要。测量这种航天热控涂层，需要测量涂层的法向发射率、半球发射率、太阳光反射率，以计算涂层的热辐射性能（就是一束太阳光照过来，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，这样就能计算出在不同光照下，涂层大概会维持在什么温度范围，这个就是对航空器件的控温要求的一种保证）。像这种应用的话TESA2000发射率测量仪是很合适的。发射率测量仪可应用于节能建筑、LEED认证等研究都是有用到的。输出:2.4 毫伏（当材料发射率为0.9，材料温度为25℃时）。价格实惠发射率测量仪安装

半球发射率: 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。上海明策发射率测量仪参数

    请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时，我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法，详情敬请咨询我司。 上海明策发射率测量仪参数

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