二合一发射率测量仪现货

测量方法介绍辐射积分法：漫射光照射被测物表面，利用多个探测器探测一定角度上不同波段的发射辐射能，加权计算得到被测物表面太阳反射比的方法。***光谱法：将试样放置于积分球中心位置，通过测试试样在规定波长上的***光谱发射比，计算试样太阳光反射比的方法。相对光谱法：通过测试试样在规定波长上相对于标准白板的光谱发射比，计算试样太阳反射比的方法。光纤光谱仪：采用光纤作为信号耦合器件，将试样反射光耦合到光谱仪中进行光谱分析测定试样反射比的仪器。上海明策不仅提供仪器与方案，更有现场专业服务！DS半球发射率AE1/RD1我们有全新现货。可以提供一次测试服务。反射率有太阳光谱反射率测量仪SSR-ER、TESA2000反射率测量仪等。发射率测量仪测量时间:10 s。二合一发射率测量仪现货

AE1/RD1发射率测量仪是D&S公司生产，专门针对测量物体的发射率而设计的。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。二合一发射率测量仪现货并且输出电压和发射率成线性关系，D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器。

型号AE-AD1-测量直径不小于1.5英寸(3.8cm)的样品。型号AE-AD3-测量直径不小于1.0英寸(2.54cm)的样品。型号AE-ADP-测量适配器，用来测量直径不小于1.5英寸（3.8cm）的平面样品，测量低导热性、大曲率（＞2英寸）圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。客户定制–定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。电池包–为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。AE1/RD1发射率测量仪标定块上的数值表示什么呢？标定块是根据每一套仪器配套生产，然后给出原厂的证书说明。所以每套仪器的标定块数值会略有差异，应以到货实物仪器为准。

AE1/RD1发射率测量仪如今仍属是一种高精密仪器，主要用于反射隔热涂料检测。首先在测发射率时，对所需测试的样品特性、标准、程序流程和技术性要了解，要对所应用的仪器的技术性特性要了解，对仪器的结构要有一定的掌握，尤其是对AE1/RD1测试时的实际操作及特性要了解。也要认真阅读AE1/RD1发射率的实际操作操作手册，那样能够防止因错误操作，而造成仪器的损坏及样品测试数据信息的有误。AE1/RD1发射率测量仪操作方式，上海明策来给你详细介绍一下。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数。

发射率测量仪端口适配器—型号ADP（用于AE1型发射计）。AE-ADP端口内径为13/8英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸，具有低导热性的材料，大曲率圆柱形表面（>2英寸）粗糙或纹理表面。为了测量大曲率的圆柱形表面，检测器感应元件必须与表面的轴对称定位，以降低由于轻微的未对准而产生的误差。将适配器连接到AE1测量头的旋螺钉用于正确对准仪器。同样用于测量大曲率圆柱表面，提供柔性波纹管以密封圆柱形表面，并防止间歇性空气流过检测器表面。把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。明策科技发射率测量仪参数

GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。二合一发射率测量仪现货

美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，具有如下优点：重复性:±0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠:相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。二合一发射率测量仪现货

上海明策电子科技有限公司主要经营范围是仪器仪表，拥有一支专业技术团队和良好的市场口碑。公司业务分为黑体校准源，红外测温仪，高速摄像机，发射率测量仪等，目前不断进行创新和服务改进，为客户提供良好的产品和服务。公司将不断增强企业重点竞争力，努力学习行业知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。明策科技立足于全国市场，依托强大的研发实力，融合前沿的技术理念，飞快响应客户的变化需求。