热表面材料发射率测量仪现货

时间:2022年03月05日 来源:

把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为1.0英寸(2.54cm),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头。AE1/RD1红外半球发射率测量仪满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。热表面材料发射率测量仪现货

发射率测量仪

    校准AE1/RD11.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到,2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上,另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水,确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多,太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝,使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 明策发射率测量仪什么价格JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。

热表面材料发射率测量仪现货,发射率测量仪

SSR-ER反射率测量仪能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率,甚至还可测透明材料透射率(厚度可测6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的***精度为0.001级别,重复精度在0.003AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。

    传统的发射率测量方法可以分为量热法、发射率、辐射能量法。传统的发射率测量方法没有国际标准建立,缺乏国际之间对比缺乏**数据库的建立,未来会逐步建立某领域内的专业数据库,同时推进国际合作和国际比对工作,而且多种方法并存,但是没有一种方法能占主导地位,测量精度都不高。传统方法无论从纯粹理论还是从实际操作(测量平台搭建)等方面都存在一定的难度。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为()。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为(),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。 把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。

热表面材料发射率测量仪现货,发射率测量仪

AE1/RD1发射率测量仪可以用于哪些行业首先一大行业就是建筑隔热涂料行业,建筑隔热涂料发射率是产品质量的重要管控指标,所以建筑隔热涂料发射率测量是必不可少的。像航天、纺织行业也会有用到。AE1/RD1发射率测量仪组成部分AE1测量头、两个高发射率标定块、两个低发射率标定块、热沉装置、小目标适配器(含铝配件)、大曲率测量适配器、通用100/240v50~60Hz电缆和电源、标准模块化电源线、数字显示仪表RD1、手提箱、CD。上海明策给您介绍。随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。AE1发射率测量仪服务价格

操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度。热表面材料发射率测量仪现货

    参数介绍|半球发射率AE1/RD1:AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径不小于()。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品直径不小于(),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,可来上海明策咨询! 热表面材料发射率测量仪现货

上海明策电子科技有限公司致力于仪器仪表,是一家贸易型公司。明策科技致力于为客户提供良好的黑体校准源,红外测温仪,高速摄像机,发射率测量仪,一切以用户需求为中心,深受广大客户的欢迎。公司将不断增强企业重点竞争力,努力学习行业知识,遵守行业规范,植根于仪器仪表行业的发展。明策科技立足于全国市场,依托强大的研发实力,融合前沿的技术理念,飞快响应客户的变化需求。

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责