MIKRON高精度红外测温仪

时间:2024年12月13日 来源:

IN 5/9红外测温仪是专门为测量蓝宝石晶体和蓝宝石晶片的温度而设计,采用数字信号处理技术,精度高, 0/4..20mA两种可切换模拟信号;RS232/RS485数字接口,可以很方便得连接到电脑上实时动态监测测量情况,并保存到电脑上;也可以在电脑上对测温仪参数进行设置;为了满足不同的测量需要,有6种镜头可供选择;采用激光瞄准,可以方便精细的瞄准被测目标点。配有用于电气装置的连接头,连接电缆线从2米到30米之间可根据自己的需要选择长短。明策红外测温仪,功能齐全,可在航空航天领域进行温度监测。MIKRON高精度红外测温仪

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IN 300红外测温仪是一款非接触、固定式的红外测温仪,用于非接触式测量-20℃-600℃的非金属表面如塑料、橡胶、食品、木材、纸张等,或喷漆、涂层或阳极氧化处理金属的表面温度;也可以用于金属材料、复合材料、陶瓷、石墨、液体、沥青等各种材质的非接触测温。IN 300红外测温仪采用一体式设计,不锈钢外壳小巧、坚固,IP65防护设计,紧凑的外形可以适用于狭窄的安装空间,与生产设备紧密结合在一起;双线技术更便于电气连接;坚固的外壳、耐用设计、欧洲IP65防护标准。湖北高精度红外测温仪设备明策红外测温仪,操作简单,测温准确,适用于学校实验室的温度测量。

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IMPACIN5红外测温仪是一款双线制、紧凑型、高精度的红外测温仪,非常适合用于非接触式测量金属材料、非金属材料、石墨、陶瓷、喷漆、涂层或阳极氧化处理金属的温度;一体式的设计、坚固的不锈钢外壳、IP65防护标准,在恶出的工况下依然能长期稳定工作。除了IN5基本型外,还推出了IN5plus型号;相比基本型号,plus型号测温仪模拟信号为0..20mA或4..20mA,可切换;还增加了可选RS232或RS485数字接口。IN5-Lplus型号配置了更好测量视域的光学镜头,提供更好的光学系数比,用于远距离、小目标物体的测量。IN5-Hplus型号具有0.01秒的超快速响应速度,用于需要高速测量场合。为了满足各种测量距离和大小的目标物体,有三种镜头可选,可以根据实际测量距离、目标物尺寸来选择合适的镜头。配有用于电气装置的连接头,连接电缆线从2米到30米之间根据需要选择。

IPE140/39红外测温仪是IPE140的一款特殊版本,能够直接穿透火焰、、燃烧的气体或者玻璃,测量其后面的目标物体的温度;普通的红外测温仪如果碰到火焰、燃烧的气体或者玻璃是无法穿透的,只能测量火焰、燃烧的气体和玻璃表面的温度,无法测量得到背后目标物体的温度。还可以用干穿透玻璃测温,特别是需要测量玻璃内部的温度,该型号可以刚好稍稍穿透球璃内部一点点,测量到玻璃内部的温度而不是球璃表面的温度,因为暴露在外面的玻璃表面的温度并不是其真实的温度。该特殊型号与IPE140一样,具有140系列的所有功能和特性。

有三种镜头可以选择,可以实现极小的光斑尺寸,用于测量微小目标物体:

镜头1:测量距离105mm-150mm;

镜头2:测量距离200mm-440mm;

镜头3:测量距离345mm-4300mm。 明策高精度红外测温仪,快速测温,数据可靠,在实验室环境中发挥重要作用。

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IMPAC IS 320红外测温仪是一款短波、固定式红外测温仪,采用内部字信号处理,主要用于测量金属、石墨、陶瓷、复合材料等各种材料的温度,广泛应用于感应加热、钢铁、锻造、轧钢、金属熔融、激光焊接、工业自动化设备等各种行业。

小巧的机身使其能够安装在小型生产设备上,坚固耐用的设计确保了恶劣工业环境现场应用中的稳定性。该测温仪有多种镜头可选,可以实现较小的光斑尺寸。LED靶光可精确地瞄准测量物体,测量时会自动启动。除了模拟输出外,测温仪还配备了一个RS485数字接口,可确保数据通过长距离安全地传输至电脑或PLC控制器。随机配备的InfraWin软件可显示图形与存储测量数据,并可对仪器的所有参数进行简便地设置。 明策红外测温仪,操作便捷,测温范围大,可满足农业生产的温度测量需求。湖北高精度红外测温仪设备

明策IGAR6红外测温仪,响应时间短,测量精度高,适用于电子制造行业的温度检测。MIKRON高精度红外测温仪

UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计,为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。

蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度,而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm,0.5kHz测量速度的反射率测量仪,可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准,其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度,从而提高成品率主要特点使用紫外波段直接测量GaN层温度;

使用脉冲光源实时快速测量发射率;

使用真正的光计数仪器将测量中的噪声降至低;

防止由于延迟采样(无快门打开和关闭)而造成的数据偏差

测温范围:650至1300℃

重复精度0.01°C(seeTN-828) MIKRON高精度红外测温仪

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