上海黑体炉用纳伏表

黑体的应用:黑体在工业上主要应用于测温领域，**主要的产品是黑体炉。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过高稳定度的辐射源（通常为黑体辐射源）和其他配套设备，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果。在校准、检定工作中，辐射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范围内可用开口式中、低温黑体炉，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性气体保护的高温黑体炉。标准器分别为二等标准热电偶（二等标准铂电阻温度计）和标准光学（光电）高温计。有黑体炉，可以自行校验，需要说明的是，您的使用习惯、使用环境或执行标准都可能会要求更短的校准周期。上海黑体炉用纳伏表

BR1450中高温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由100～1450℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ32mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：100～1450℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合低温黑体炉试用中温黑体炉，作为非接触测温仪表标定，分度用的标准辐射源。

由于是针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。

黑体辐射源的发展历史:早期的黑体辐射源，结构简单，腔体材料多应用碳硅化物、陶瓷或石墨，采用恒温油槽或非均匀布置的加热丝来取得均匀温场，为取得较好的黑体辐射特性，开口孔径都比较小。比较典型的有1960年由Bed-ford设计的工作于200℃的黑体炉，恒温油均温，光阑朝下，探测器可见内表面温差小于0.01℃，εn=0.998±0.001;1966年，由Clark和Moore设计的工作于1100～1325℃的黑体炉，加热丝非均匀布置，空腔内表面覆盖镍氧化层（Ni2O3）发射率测量仪器见图4，分别为日本某公司生产的FTIR-6100型傅里叶光谱分析仪和HIT-2型面源黑体炉。

红外热像仪用于研发，工业检测与设备维护的应用范围愈来愈***，红外热像仪的需求也在逐年增加之中，在科研，医疗，电子建筑等各行各业中发挥着举足轻重的作用。红外热像仪有许多参数，依据现行的热像仪校准规范（JJF1187-2008）的要求，需要对外观、显示、示值误差、测温一致性进行校准。热成像仪示值误差和测温一致性校准可以用腔式黑体炉完成。当黑体辐射源的尺寸不能完全覆盖热像仪视场时，需要调整热像仪或黑体辐射源位置，使黑体辐射源中心分别成像于标记点，使辐射源中心分别成像于热像仪显示器的各个区域，需要调整并测量9次（JJF1187-2008热像仪校准规范.现场检定校准黑体炉、恒温槽等计量器具，开展质检人员业务培训，有效解决企业技术难题。上海黑体炉推荐货源

在选择黑体炉时通常是选择发射率较高的腔式黑体，也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。上海黑体炉用纳伏表

BR125低温黑体炉温度范围宽广，由-25～125℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ50mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：-25～125℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合上海黑体炉用纳伏表