江苏加工CeYAP晶体

闪烁过程的第二阶段0为复杂多变。空穴和电子的弛豫过程是不同的。内壳被电离的原子(A)可以通过辐射跃迁发射光子来弛豫，或者通过产生二次电子(俄歇电子)在没有辐射的情况下弛豫。一般没有辐射衰减的概率远大于辐射衰减的概率。像初级电子一样，俄歇电子通过散射电子和发射声子来损失能量。原子内壳层电子能级之间的辐射跃迁能一般等于X射线的能级这第二个X射线光子可以被另一个原子吸收产生新的深空穴和自由电子。结果，空穴从原子(a)的k层跑到l或m层，然后参与下一步的弛豫过程。因此，内壳含空穴原子(a)的弛豫过程是无辐射跃迁和辐射跃迁的叠加过程，所需时间一般为10-13 ~ 10-15s退火和辐照对纯YAP和Fe:YAP晶体吸收谱有影响吗？江苏加工CeYAP晶体

需要注意的是，在高活化剂浓度的晶体中，也有可能是热电子碰撞激发了发光中心。电子和空穴在迁移阶段的能量损失取决于电子和空穴相对于发光中心的空间分布。如果激发路径中产生的电子空穴对位于发光中心附近，复合过程将是有效的；否则，这些电子或空穴将被俘获。在无机晶体中，各种杂质和晶格缺陷可以用作电子和空穴的陷阱。例如，离子晶体中的阴离子空位是电子的有效俘获中心。捕获电子的阴离子空位是稳定的电子缺陷，即F中心(如图1-3所示)。如果电子或空穴被深陷阱俘获，这些俘获的载流子将不会参与闪烁过程。掺杂到晶体中的活化剂也会导致陷阱的形成。当CsI和NaI含有超过0.02%的Tl时，将在晶体中形成复合活化剂中心(聚集体)。这些聚集体也是晶体中的深陷阱。因此，Tl掺杂浓度为0.02%至0.03%的NaI和CsI显示出比较大光输出海南超薄片CeYAP晶体怎样才能把CeYAP晶体抛亮？

Ce: YAP晶体的红外光谱在4.9 um、4.0 um、3.7 um和3.1 um处有吸收带，这可归因于Ce3离子从2F5/2跃迁到2 F7/2[40]。紫外-可见吸收光谱在303 nm、290 nm、275 nm、238 nm处有吸收峰，这可归因于Ce3离子从2F5/2能级跃迁到5d能级。Ce: YAP晶体的d-f跃迁为宽带发射，峰值在365 nm。Ce  3的光致发光强度呈单指数形式衰减，室温下其衰减常数约为16-18ns[44][79]。由于YAP矩阵中的各种缺陷能级都能俘获电荷载流子，高能射线和粒子激发产生的闪烁光衰减常数远大于18ns，一般在22-38 ns之间，也有慢分量和强背景[43][80]。1.5.2铈：钇铝石榴石高温闪烁晶体的研究

当光线与闪烁晶体相互作用时，晶体中电子空穴对Neh的数量直接影响晶体的光输出。假设电子空穴对转化为闪烁光子的效率为(与从电子空穴对到发光中心的能量转移效率和发光中心的量子效率有关)，因此，无机闪烁晶体的光输出主要与晶体成分(，Eg)、电子空穴向发光中心的能量转移效率和发光中心的量子效率()有关.NaI:Tl闪烁晶体具有比较大光输出(约48，000 ph/mev)。将其他无机闪烁晶体的光输出与NaI:Tl晶体的光输出进行比较得到的相对值(%NaI(Tl))称为“相对光输出”。相对光输出通常用于表征无机闪烁晶体的光输出。

密度、线性吸收系数、质量吸收系数、有效原子序数、辐射长度和莫里哀半径[7-9]。

在高能射线探测应用中，经常使用高密度无机闪烁晶体。因为高晶体密度可以减小探测器的尺寸。 CeYAG晶体脉冲X射线激发衰减时间测试？

同浓度Ce: YAP的荧光光谱。在可见光(300纳米)激发下，不同浓度Ce: YAP的荧光强度随着浓度的增加而增加，直到0.5at%。当浓度为1.0at%时，浓度淬灭，发光强度开始降低。如图4-7所示，相同厚度(5mm)的Ce: YAP晶体在X射线激发下的发光强度随着浓度的增加先增大后减小，峰值位置也有红移，其中0.3at%处的发光强度比较高。自吸收对光致发光几乎没有影响，因为激发和发射过程都发生在样品表面。在高能射线的激发下，经过多次电离过程，晶体内部产生大量的电子-空穴对，电子-空穴对将能量传递到发光中心，发光过程基本发生在晶体内部。CeYAG提拉法晶体生长的吗？江苏加工CeYAP晶体

CeYAG晶体应该如何退火？江苏加工CeYAP晶体

无机晶体中的载流子热化时间为10-11 s到10-12s，比电子之间的弛豫时间长(一般为10-13 s到10-15 s)，因此可以认为电子-电子弛豫过程和电子-声子弛豫过程依次发生。在空间坐标下，热化过程可以表示为具有一定特征长度L的载流子迁移过程，对于离子晶体，L为102 ~ 103nm；对于典型的半导体，l大于103纳米。限制载流子迁移的散射中心是晶体中存在的固有缺陷和杂质缺陷。中性点缺陷散射的低能电子的截面与该点缺陷的几何截面有关。对于带电点缺陷，散射与库仑势有关，散射截面可用0的卢瑟福公式计算。江苏加工CeYAP晶体

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