内蒙古常规尺寸CeYAP晶体

载流子也可以被晶格中的浅陷阱俘获(见图1-4)。这些俘获的载流子可以被热释放并参与复合过程，从而增加晶体的发射持续时间。

电子、空穴和激子的相互作用将导致局域化。许多离子晶体表现出一种有趣的现象，即价带空穴位于正常晶格中，这种现象被称为自陷。在热化过程中，空穴达到价带的顶部，并被限制在特定的阴离子中。对于碱金属卤化物晶体，这意味着一个卤化物离子转变成一个原子：X-  X0。该卤原子X0将在一定程度上极化环境，并且该系统将显示出轴向弛豫，导致这种局部空穴被两个相邻的阴离子共享。这种状态被称为X2分子或Vk中心(图1.2)。在低温下(通常t  <200 k)，Vk核是稳定的，位于两个阴离子上的空穴称为自陷空穴，电离辐射后离子晶体形成自陷空穴的平均时间为10-11 s到10-12 s，这个时间比自由空穴和导带电子的复合时间短。因此，纯离子晶体中的大多数空穴很快转化为Vk中心。 大尺寸Ce:YAP晶体的生长方法？内蒙古常规尺寸CeYAP晶体

Ce: YAP晶体在弱还原气氛中生长，发现自吸收得到有效0，荧光激发的发光强度突出提高。同时，研究了还原气氛中生长对Ce: YAP晶体其他闪烁性能的影响。

第四，比较了掺杂不同价离子对Ce: YAP晶体自吸收的影响。发现二价离子对Ce: YAP晶体的闪烁性能有很强的负面影响，而四价离子有助于提高晶体的闪烁性能。还研究了锰离子掺杂对Ce: YAP晶体性能的影响。第五，利用温度梯度法，生长了直径为110毫米的Ce: YAG闪烁晶体，该晶体具有良好的形状和光学性质。研究了不同温度和气氛等退火条件对Ce: YAG(TGT)闪烁晶体发光效率的影响，发现1100氧退火对提高晶体发光强度的效果比较好。初步分析了铈：钇铝石榴石(TGT)闪烁晶体的缺陷及其对发光性能和闪烁时间的影响。 贵州品质优的CeYAP晶体Ca2+离子和Si4+离子掺杂对Ce : YAP晶体有哪些影响？

首先，用提拉法生长大尺寸Ce: YAP晶体，包括改进生长设备和调整生长工艺。因为以前的生长工艺不适合生长大尺寸的Ce: YAP晶体，尤其是晶体形状、肩部和等径部分不能得到有效控制，影响晶体质量。为了解决存在的问题，我们改进了晶体生长炉的功率控制系统和重量传感系统，重新设计了坩埚和保温罩，并对温度场过程进行了适当的探索。

其次，研究了Ce:YAP晶体的自吸收机制。在实际应用中，国产Ce: YAP晶体存在严重的自吸收问题，直接影响晶体的发光效率。比较了铈离子浓度、退火、辐照和杂质对铈： YAP晶体自吸收的影响。通过分析Ce: YAP晶体的自吸收机制，发现在YAP中存在一个Ce4离子的宽带电荷转移吸收峰，其半峰全宽接近100纳米。结果表明，还原Ce4离子可以***Ce: YAP晶体的自吸收，Ce4离子可以明显猝灭Ce3离子的发光。

2.一次电子和空穴，的弛豫即产生大量二次电子、空穴，光子、基本激子等电子激发；

3.低能二次电子和空穴，的弛豫(热化)，即形成能隙宽度约为Eg的热化电子空穴对；

4.热化电子空穴将能量转移到发光中心并激发发光中心；

5.激发态的发光中心发出紫外或可见荧光，即闪烁光。

对于任何凝聚态物质，**个阶段是相似的。因此，为了便于讨论，我们将闪烁体中的物理过程分为两部分：(1)热化电子空穴对的产生(**个阶段)；(2)发光中心的激发和发射。 Ce:YAP和Ce:YAG高温闪烁晶体的区别？

除了主要掺杂的铈元素外，锆元素占很大比例，其含量超过10ppm，这应该是由于生长过程中少量氧化锆绝缘盖碎片落入熔体中造成的，但锆对YAP: Ce晶体[104]的闪烁特性有一定的积极影响。其他元素的含量太小，不足以引起足够数量的吸收中心。但晶体生长所用原料的纯度为5N，测量结果表明总杂质含量大于1ppm，已经超出纯度限值一个数量级。过量的杂质可能来自晶体生长过程或配料过程，因此在未来的生长和制备过程中应注意可能的杂质污染。

在排除杂质的情况下，主要考虑基体和掺杂元素本身。不同气氛退火引起的自吸收效应相反，与温度呈逐年关系，说明自吸收与离子价态的变化有关，与ce的掺杂浓度成正比。我们认为，比较大的自吸收可能是Ce离子本身，即Ce4通过氢退火转化为Ce3，削弱了自吸收，而氧退火增强了自吸收，Ce浓度越大，Ce4离子的数量相应增加。

同厚度Ce:YAP晶体自吸收比较。青海加工CeYAP晶体

CeYAG晶体脉冲X射线激发衰减时间？内蒙古常规尺寸CeYAP晶体

需要注意的是，在高活化剂浓度的晶体中，也有可能是热电子碰撞激发了发光中心。电子和空穴在迁移阶段的能量损失取决于电子和空穴相对于发光中心的空间分布。如果激发路径中产生的电子空穴对位于发光中心附近，复合过程将是有效的；否则，这些电子或空穴将被俘获。在无机晶体中，各种杂质和晶格缺陷可以用作电子和空穴的陷阱。例如，离子晶体中的阴离子空位是电子的有效俘获中心。捕获电子的阴离子空位是稳定的电子缺陷，即F中心(如图1-3所示)。如果电子或空穴被深陷阱俘获，这些俘获的载流子将不会参与闪烁过程。掺杂到晶体中的活化剂也会导致陷阱的形成。当CsI和NaI含有超过0.02%的Tl时，将在晶体中形成复合活化剂中心(聚集体)。这些聚集体也是晶体中的深陷阱。因此，Tl掺杂浓度为0.02%至0.03%的NaI和CsI显示出比较大光输出内蒙古常规尺寸CeYAP晶体

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