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简单来说mura是指液晶屏幕亮度和色度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？主要有以下因素：CF制程因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。TFT制程OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。LCD制程CellGapCellGap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。Spacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura，或Stage的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。LCM制程Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象。偏光片偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura。人为因素因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。高精度设备玻璃台面。安徽老化炉用背光

为什么会有Mura产生？其实，Mura产生的主要原因就是视觉上对于感受到的光源有不同的频率响应而感觉到颜色的差异。LCD制程：CellGapCellGap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。Spacerspacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura，或Stage的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。LCM制程：Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象，通常以交叉验证等方式确认背光是否有异常现象。偏光片：偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura，通常更换偏光板后即OK。人为因素：因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。安徽背光批发购买检测灯箱请找苏州啸百，欢迎来电询价。

在LCM的生产过程中，从液晶显示面板的进料开始，接着会进行外引线焊接（OuterLeadBounding，OLB）的预备作业，及驱动IC组件的进料以及焊接作业，其中驱动IC可以使用TCP（TapeCarrierPackage）、COF（ChipOnFilm）、或COG（ChipOnGrass）的形式，并透过异方性导电胶膜（AnisotropicConductiveFilm，ACF）压合焊接到LCD上。接着再进行印刷电路板（PrintedWiringBoard，PWB）的进料，以及同样透过ACF使其与驱动IC间，完成TCP、COF、或FPC（FlexiblePrintedCircuit）的焊接作业，到此即完成PCBI的制程。此阶段，一些自动化设备必须传输LCD，必须进行一些材料的涂布以及加热压合的动作，因此这些接触及压合都会产生大量瞬间的ESD现象出现，这种放电则多属LCD与设备接触时，在其内部的自由电荷（FreeCharge）形成重新再分布行为。当之后的作业中有再接触行为出现时，因为前述的电荷储存造成电位的不平衡必然会造成ESD，这时形成的放电回路大都会通过IC，或从IC内部释放出，对IC而言，就如CDM的ESD；对整体模块或系统而言，即为模块储存电荷模式（BoardLevelChargedDeviceModel，BLCDM）的ESD三种型式。

mura本来是一个日本字,随着日本的液晶显示器在世界各地的发展,这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。mura？是什么？简单来说mura是指显示器亮度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？其实，Mura产生的主要原因就是视觉上对于感受到的光源有不同的频率响应而感觉到颜色的差异。一、CF制程：膜厚因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。二、TFT制程：OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。购买检测灯箱请找苏州啸百，欢迎来电详谈。

检测灯箱一个非常重要的参数是均匀性，其定义是发光区定义的点位的比较低亮度除以比较高亮度的百分比。亮度可以用亮度计或者照度计进行测试，但是因为亮度和照度是2个完全不一样的定义方式，亮度是指画面的明亮程度，单位是坎德拉每平米(cd/m)或称nits。照度的定义是指物体被照亮的程度，采用单位面积所接受的光通量来表示，单位为勒克斯(Lux,lx)。与照度不同，亮度与观测距离没有关系，而照度随测试距离的增加指数级下降。而且照度还受测试位置影响比较大，当照度计在光源或检测灯箱中心位置时，光源和检测灯箱法线方向成一定立体角范围内的光线都会照射到照度计表面，此时照度比较高，如果照度计移动到光源或者检测灯箱边缘，则照度计接收到的光线只有边缘法线方向发光区域立体角部分，灯箱周围非发光区没有光线贡献，导致测试的照度值急剧降低，所以，一般如果要定义检测灯箱照度的均匀性，需要尽可能贴近灯箱表面测试，而且测试的点位尽量原理发光区边缘。即便这样，还是无法真实反应检测灯箱所有发光区均匀性，所以，一般采用亮度计测试灯箱的亮度来计算均匀性，测试的亮度值与测试的位置、距离都不影响。低压钠灯替代LED光源厂商。浙江紫外高亮背光批发

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液晶玻璃检测灯箱，根据检验站点不同，可以分为Array\CF\PI站点的Macro检测灯箱，以及模组段FI、PCBI、OQC站点的De-mura和AOI灯箱，其中demura灯箱对均匀性和外观要求比较高。在了解demura灯箱的要求之前，有必要先了解mura和demura的原理。在液晶玻璃制备过程中，制程参数、材料一致性等问题会导致各个像素单元之间发光产生差异，从外观上形成不均匀性的现象，这个就叫mura，而demura也叫detect或deletemura，即检测和修复mura。mura的修复分为外部补偿和内部补偿，demura修复设备均采用外部补偿方式，通过改变像素灰阶修正像素间的发光差异，从而消除mura提升液晶面板的整体均匀度。安徽老化炉用背光

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