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简单来说mura是指液晶屏幕亮度和色度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？主要有以下因素：CF制程因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。TFT制程OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。LCD制程CellGapCellGap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。Spacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura，或Stage的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。LCM制程Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象。偏光片偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura。人为因素因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。苏州检测灯箱厂家有哪些？上海专业高亮背光销售

电子元器件按其种类不同，受静电破坏的程度也不一样，比较低的100V的静电压也会对其造成破坏。近年来随着电子元器件发展趋于集成化，因此要求相应的静电电压也在不断减弱。人体平常所感应的静电电压在2-4KV以上，通常是由于人体的轻微动作或与绝缘物的磨擦而引起的。也就是说，倘若我们日常生活中所带的静电电位与IC接触，那么几乎所有的IC都将被破坏，这种危险存在于任何没有采取静电防护措施的工作环境中。静电对IC的破坏不仅体现在电子元器件的制造工序当中，而且在IC的组装、远输等过程中都会对IC产生破坏。要解决以上问题，可以采取以下各种静电防护措施：操作现场静电防护。对静电敏感器件应在防静电的工作区域内操作；人体静电防护。操作人员穿戴防静电工作服、手套、工鞋、工帽、手腕；储存运输过程中静电防护。静电敏感器件的储存和运输不能在有电荷的状态下进行。要实现上述功能，基本做法是设法减少带电物的电压，达到设计要求的安全值以内。即要求下式中的电荷（Q）与电阻（R）要小，表电容量（C）要大。V=I.R，Q=C.V式中V：电压，Q：电荷量，I：电流C：静电容量R。广东液晶背光厂家检测光源，灯箱，背光源维修请找苏州啸百，欢迎来电。

薄膜产品在涂布、成型、出货等工艺过程中，不可避免的存在一些不良，为了方便客户使用时避开缺陷区域，需要薄膜生产厂商对缺陷位置进行标记，如此需要用到检测灯箱或检测灯架。薄膜产品不同型号透光率不同，需要不同的透光亮度，需要灯箱有调光功能。薄膜产品不同幅宽，需要有对应宽度的检测灯箱，需要灯箱有发光宽度可以调节功能。薄膜产品不同卷芯大小，导致灯箱到被检测玻璃距离差异很大，需要灯箱具有高度调节功能。不同工艺站点，薄膜的行进方向不同，有的是水平，有的是竖直，或者一定角度，要求灯箱出光面可以0°-180°任意角度调整和悬停。苏州啸百光电技术有限公司开发了薄膜材料专业的检测灯箱，照度从0~10000lux可调，发光宽度0mm~3000mm可调，灯箱高度可调，发光角度可调，目前已经在背光显示用光学膜行业大量使用。

QUV紫外老化试验箱利用荧光紫外灯管来模拟太阳光对耐久耐用材料的破坏作用。这些灯管在电学原理上与普通照明用的冷白灯管很相似，但它主要发射紫外光而非可见光或红外光。QUV紫外老化试验箱对于不同的较终使用条件，需要不同光谱进而选择不同类型的灯管。常见的灯管类型包括UVA灯管以及UVB灯管。UVA-340灯管在短波紫外线波段可比较好模拟太阳光Q-SUNQ-SUN氙灯试验箱被认为可比较好模拟全光谱太阳光，因为它们可产生紫外线，可见光和红外线。氙灯光谱受两个因素影响：滤光系统和光源稳定性。氙灯试验箱产生的光谱是全光谱太阳光，必须使用不同类型的玻璃过滤器以得到不同的光谱。ASTMG155中定义了三种类型经常使用的过滤器：日光、窗玻璃和紫外延展过滤器。购买检测灯箱请找苏州啸百，欢迎来电询价。

AOI检测设备原理：当自动检测时，AOI检测设备机器通过高清CCD摄像头自动扫描被检测产品，采集图像，测试的检测点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出目标产品上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整和工程人员改善工艺。AOI检测设备的大致流程是相同的，多是通过图形识别法。即将AOI系统中存储的标准数字化图像与实际检测到的图像进行比较，从而获得检测结果。例如，检测某个焊点时，按照一个完好的焊点建立起标准数字化图像，与实测图像进行比较，检测结果是通过还是不通过，取决于标准图像、分辨力和所用检测程序。图形识别中会用到各种算法，如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求边角等。AOI的光线照射有白光和彩色光两类设备，白光是用256层次的灰度，彩色是用红光，绿光，蓝光，光线照射至焊锡/元器件的表面，之后光线反射到镜头中，产生二维图像的三维显示，来反映焊点/元器件的高度和色差。AOI从镜头数量来说有单镜头和多镜头，这只是技术方案实现的一种选择，很难说那种方式就一定好，因为单镜头通过多个光源的不同角度照射也能得到很好的检测图像。丝印网版检测灯箱制作请找苏州啸百。黑龙江液晶高亮背光厂家

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Demura灯箱厚度要做多厚，这是广大AOI从业技术人员关心的一个问题，其实灯箱厚度只是一个表象，如何获得高均匀性的数据和画面才是衡量Demura灯箱好坏的标准。影响灯箱均匀性的因素有很多，下面简单介绍几种影响比较大的因素。首先是不同灯板/区块亮度的一致性，如果不同灯板驱动电流不同，灯板的亮度就不同，灯箱的发光区域就会形成边界明显的区块。第二个是同一张灯板中或区块中，LED颗粒亮度差异过大，也会形成斑点状mura。第三个是灯箱边缘比中心区域亮度要低，特别是4个角落，主要是靠近边缘区域LED贡献的光线比中间区域少，可以通过加大检测灯箱的尺寸，实际检测时只使用中间区域来改善。增加灯箱厚度，可以使LED混光高度增加，减弱Mura程度，但是还是很难避免Mura的产生。苏州啸百光电技术有限公司，结合多年的背光和光源设计经验，无需增加灯箱发光区尺寸，可以实现全发光区域高均匀的效果。上海专业高亮背光销售

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