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这些年来，IC持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路。这样增加了每单位面积容量，可以降低成本和增加功能－见摩尔定律，集成电路中的晶体管数量，每两年增加一倍。总之，随着外形尺寸缩小，几乎所有的指标改善了－单位成本和开关功率消耗下降，速度提高。但是，集成纳米级别设备的IC不是没有问题，主要是泄漏电流（leakage current）。因此，对于用户的速度和功率消耗增加非常明显，制造商面临使用更好几何学的尖锐挑战。这个过程和在未来几年所期望的进步，在半导体国际技术路线图（ITRS）中有很好的描述。集成电路的发展推动了电子产业的快速发展，为社会带来了更多便利和创新。SSS4N60B

集成电路发展对策建议：重在积累，克服急功近利，设计业的复杂度很高，需要强大的稳定的团队、深厚的积累。积累是一个不可逾越的发展过程。中国集成电路产业的发展如同下围棋，不能只争一时之短长，要比谁的气长，而不是谁的空多。集成电力产业人才尤其是设计人才供给问题长期以来是舆论界关注的热点，许多高校在专业与设置、人才培养方面急功近利，片面追随所谓社会热点和学业对口，导致学生的基本综合素质和人文科学方面的素养不够高，知识面过窄。事实上，众多设计企业普遍反映，他们招聘人才的标准并非是单纯的所谓专业对口，而是更注重基础知识和综合素质，他们普遍反映高校的教育太急功近利了。MC74HC138ADR2G集成电路在制造过程中面临着泄漏电流等问题，制造商需要应对这些挑战，以提高电路的性能和可靠性。

尽管随机存取存储器结构非常复杂，几十年来芯片宽度一直减少，但集成电路的层依然比宽度薄很多。组件层的制作非常像照相过程。虽然可见光谱中的光波不能用来曝光组件层，因为他们太大了。高频光子（通常是紫外线）被用来创造每层的图案。因为每个特征都非常小，对于一个正在调试制造过程的过程工程师来说，电子显微镜是必要工具。在使用自动测试设备（ATE）包装前，每个设备都要进行测试。测试过程称为晶圆测试或晶圆探通。晶圆被切割成矩形块，每个被称为“die”。每个好的die被焊在“pads”上的铝线或金线，连接到封装内，pads通常在die的边上。封装之后，设备在晶圆探通中使用的相同或相似的ATE上进行终检。测试成本可以达到低成本产品的制造成本的25%，但是对于低产出，大型和/或高成本的设备，可以忽略不计。在2005年，一个制造厂（通常称为半导体工厂，常简称fab，指fabrication facility）建设费用要超过10亿美金，因为大部分操作是自动化的。

集成电路是现代电子技术的重要组成部分，它在信息处理方面起着至关重要的作用。首先，集成电路可以实现数字信号的处理和转换，使得数字信号可以被计算机等设备进行处理和分析。其次，集成电路可以实现模拟信号的数字化，使得模拟信号可以被数字设备进行处理和分析。此外，集成电路还可以实现信号的滤波、放大、变换等功能，从而使得信号的质量得到提高。总之，集成电路在信息处理方面的作用不可替代，它为数字化时代的到来提供了坚实的技术基础。集成电路在信息存储方面也起着重要的作用。集成电路可以实现存储器的制造，包括随机存储器（RAM）、只读存储器（ROM）等。这些存储器可以存储计算机等设备需要的程序和数据，从而使得计算机等设备可以进行数据处理和分析。随着集成电路的发展，晶体管的数量每两年翻一番，使得芯片每单位面积容量增加，成本降低，功能增强。

集成电路检测常识：1、要保证焊接质量，焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，建议用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。2、不要轻易断定集成电路的损坏，不要轻易地判断集成电路已损坏。因为集成电路绝大多数为直接耦合，一旦某一电路不正常，可能会导致多处电压变化，而这些变化不一定是集成电路损坏引起的，另外在有些情况下测得各引脚电压与正常值相符或接近时，也不一定都能说明集成电路就是好的。因为有些软故障不会引起直流电压的变化。集成电路的微小尺寸和低功耗特性，使得电子设备更加轻巧、高效和智能。NUF6105FCT1G

集成电路的制造涉及多个工艺步骤，如氧化、光刻、扩散、外延和蒸铝等，以确保电路的可靠性和功能完整性。SSS4N60B

近几年国内集成电路进口规模迅速扩大，2010年已经达到创纪录的1570亿美元，集成电路已连续两年超过原油成为国内较大的进口商品。与巨大且快速增长的国内市场相比，中国集成电路产业虽发展迅速但仍难以满足内需要求。当前以移动互联网、三网融合、物联网、云计算、智能电网、新能源汽车为表示的战略性新兴产业快速发展，将成为继计算机、网络通信、消费电子之后，推动集成电路产业发展的新动力。工信部预计，国内集成电路市场规模到2015年将达到12000亿元。我国集成电路产业发展的生态环境亟待优化，设计、制造、封装测试以及设备、仪器、材料等产业链上下游协同性不足，芯片、软件、整机、系统、应用等各环节互动不紧密。SSS4N60B