双光路显微镜技术改造

时间:2023年04月07日 来源:

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子,也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离,将图像画下来的样子。当然,具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜,STM显微镜因为需要测定电流,因此必须要求所测样品需要具有导电性,而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力,因此不需要考虑测定电流,所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低,主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光,在形变后激光的方向会发生偏折,因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。探针台显微镜的选型;双光路显微镜技术改造

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。 山东体式显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘;

体视显微镜的应用

1.动物学、植物学、昆虫学、组织学、矿物学、考古学、地质学和皮肤病学等的研究。     

2.在纺织工业中,用于原料及棉毛织物的检验。     

3.在电子工业中,作为晶体管点焊、检查等操作工具。     

4.各种材料的裂缝构成,气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。    

5.在制造小型精密零件时,用于机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检查以及装配工具。    

6.透镜、棱镜或其它透明物质的表面质量,以及精密刻度的质量检查。    

7.作文书钱币的真假判辨,刑侦犯罪证据的检索。     

8.广泛应用于纺织制品、化工化学、塑料制品、电子制造、机械制造、医药制造、食品加工、印刷业、高等院校、考古研究等众多的领域。

显微镜常见故障的排除:

四、视野出现明亮不均匀检查显微镜使用前是否进行光路对中。

五、目镜视野观察全黑1、检查物镜是否转入光路,视场光阑和孔径光阑是否调节太小2、检查光路是否对中。

六、视野亮度偏暗1、检查视场光阑和孔径光阑是否调的太小。2、检查光路是否调节到位(聚光镜、光阑、灯丝)。3、是否使用了偏光、相差部件。

七、目镜视野内出现黑边1、检查是否视场光阑打得太小。2、光路是否对中(聚光镜、光阑、灯丝)。3、物镜转换是否卡到位。4、目镜筒与机身卡位是否准确。

八、同步性问题使用摄像头观察时,目镜观察清晰,但是电脑显示图像模糊。1、调节接口或接口透镜高度以达到同步。2、调节接口无法完全同步的情况下,尝试调节目镜屈光度。 共聚焦显微镜观察激发光与发射光。

体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜,是一种具有正象立体感显微镜。常常用于切片操作和显微外科手术等生物、医学领域和微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工业检测。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织,是金属学研究金相的重要仪器,是工业部门鉴定产品质量的关键设备,专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。性能优越的光学系统,实现了大视野高分辨率成像;消色差设计有效实现色差校正。聚焦离子束(FIB)显微镜;上海显微镜性价比

共聚焦显微镜主要应用于:生物学领域、高分子化学领域、表面粗糙度领域。双光路显微镜技术改造

显微镜使用注意事项:

▪显微镜样本一定要保持干净,如有盖片样本,一定要干净干燥,以免样本上的试剂污染物镜。

▪不要用手直接触摸光学部件的表面(如物镜,荧光滤块,目镜等)。

▪手动显微镜换物镜时,不要抓着物镜转,要转动物镜转盘。▪荧光光源金属卤化物灯使用时注意开关间隔少30分钟。

▪样本用油镜观察后,如还需用空气镜观察,要把样本上的油擦干净再观察,以免样本上的油污染空气镜。▪油镜观察时,请使用与显微镜配套的专业镜油,不要使用其他介质(香柏油等),使用完显微镜后,及时擦掉物镜上的镜油,比较好将其他物镜也清洁一遍。清洁液以无水乙醇为主。

▪调焦时,为避免镜头撞到样本,先将物镜调到离样本近端,然后在镜下向离物镜远端调焦到样本清晰。▪显微镜使用过程中,镜体、灯箱及电源等位置应无遮挡或覆盖,以免影响散热从而损耗显微镜寿命。

▪显微镜使用完后,等灯箱部分冷却后,再盖上防尘罩。

▪显微镜包含很多光学部件,避免显微镜碰撞,以保护光学系统。

▪显微镜属精密仪器,如需搬动,拆修,请联系蔡司专业人员。 双光路显微镜技术改造

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