湖南PSM-1000显微镜

时间:2023年04月09日 来源:

照明系统通常包括光源,聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。其中,光源的亮度、发光面积、均匀程度决定了聚光照明系统可以采用的形式。照明系统可采用的光源有卤钨灯、金属卤化物灯、高压汞灯、发光二 极管 (LED)、 氙灯、电弧灯等。有些光源在其发光面内具有足够的亮度和均匀性 ,可以用于直接照明 ,但大多数情况下,光源后面需要加入由聚光镜等构成的照明光学系统来实现一定要求的光照分布,同时使光能量损失小,这两方面是对不同照明系统进行设计时需要解决的共同问题。照明光学系统注重的是能量的分配而不是信息的传递,所关心的问题并不是像平面上的成像质量如何,而是被照明面上的照度分布和大小。工业测量显微镜主要应用于电子行业。湖南PSM-1000显微镜

扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么?

扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式,其空间分辨率可达亚埃米级,可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 变倍 显微镜原理体视显微镜的光路设计;

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点,其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件;与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点:

优点:(1)成像质量高,受样品厚度与仪器干涉小(2)可达到原子分辨率(3)结果分析简单、直观(4)能够快速获取样品的综合信息,成像效率高。

缺点:(1)制样时间长,对样品的要求高;(2)一些材料在高能电子束中不稳定;(3)测试成本高,仪器分布稀少。

典型的共焦显微镜装置是在被测对象焦平面的共轭面上放置两个小孔,其中一个放在光源前面,另一个放在探测器前面,如图1所示。由图可知,当被测样品处于准焦平面时,探测端收集到的光强比较大;当被测样品处于离焦位置时,探测端的光斑发生弥散,光强迅速减小。因此,只有焦平面上的点所发出的光才能透过出射针(zhen)孔,而焦平面以外的点所发出的光线在出射针(zhen)孔平面是离焦的,绝大部分无法通过中心的针(zhen)孔。因此,焦平面上的观察目标点呈现亮色,而非观察点则作为背景呈现黑色,反差增加,图像清晰。在成像过程中,两针(zhen)孔共焦,共焦点为被探测点,被探测点所在的平面为共焦平面。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织,专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。 显微镜的专业术语词义;江苏motic 显微镜

体视显微镜和视频显微镜。湖南PSM-1000显微镜

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜,静电力显微镜,磁力显微镜,扫描离子电导显微镜,扫描电化学显微镜等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器。

扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用,即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场,通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 湖南PSM-1000显微镜

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