浙江人工智能检测仪器

时间:2021年05月30日 来源:

光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。

电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。 上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测,欢迎您的来电!浙江人工智能检测仪器

隐裂种类虽然众多,但不是所有的隐裂都会对电池片有影响。在组件生产、运输、安装和维护过程中,考虑到晶硅组件的易裂特征,需要在安装电站的各个过程注意并改进作业流程,尽量减少组件隐裂的产生。对于检测隐裂,目前EL是的方法。而导致组件隐裂的原因众多,要弄清楚原因后再追究责任,不能盲目听信他人之言。

给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少,该处存在缺点;如果有的区域完全是暗的,该处没有发生电子和空穴的复合,也或者是所发光被其它障碍所遮挡,无法检测到信号。


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缺点种类一:黑心片

EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑**域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。

缺点种类二:黑团片

多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体定向凝固时间,熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位错缺点。

缺点种类三:黑斑片

黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度>107个/cm2,黑斑边缘区域位错密度>106个/cm2均为标准要求的1000~10000倍这是相当大的位错密度。 检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,用户的信赖之选,有想法的不要错过哦!

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光伏组件在出厂前会进行EL成像检测,所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理,利用辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺点。EL检测仪能够检测光伏电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。

隐裂是指电池片中出现细小裂纹,电池片的隐裂会加速电池片功率衰减,影响组件的正常使用寿命,同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大,有可能导致开路性破坏,隐裂还可能会导致热斑效应。隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的,组件受力不均匀,或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。


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