江苏电池片检测仪

分享识别“隐裂”的方法

EL(Electroluminescence，电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺点检测设备，是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理，通过辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺点。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。

形成“隐裂”的原因

外力：电池片在焊接、层压、装框或搬运、安装、施工等过程中会受外力，当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。

高温：电池片在低温下没有经过预热，然后在短时间内突然受到高温后出现膨胀会造成隐裂现象，如焊接温度过高、层压温度等参数设置不合理。

原材料：原材料的缺点也是导致隐裂的主要因素之一。 上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测，期待您的光临！江苏电池片检测仪

光伏组件在出厂前会进行EL成像检测，所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺点。EL检测仪能够检测光伏电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。

隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常使用寿命，同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大，有可能导致开路性破坏，隐裂还可能会导致热斑效应。隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的，组件受力不均匀，或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。

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上海欧普泰科技创业股份有限公司，PL(光致发光)和红外技术综合分析，并具有3D模块采用铟镓砷传感器，而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能，其灵敏度好，检测结果与实际情况一致性佳软件系统为不同产品表面情况及尺寸提供设置菜单，无需硬件上进行设置，方便应用不仅可以探测标准尺寸的硅块与硅片，而且可以检测无规则尺寸的样品可直接对单晶，多晶，非晶，化合物等各类型光伏电池进行直接检测可应用到电池生产中的各工艺检测，对硅块、硅片、绒面、扩散、刻蚀、PECVD、电极印刷、烧结、电池片等各工艺进行检测分析红外高像素相机，辨；得到更多波段的信息，更真实线形光源，扫描方式收集图像，避免常规照相的光学变形可轻易获得单位面积上的**度并可轻易达7suns亮度，比常规1sun具有更高的敏感度，更经济更安全无需对线光源遮光，避免了对比度下降，信号更真实。

上海欧普泰科技创业股份有限公司，电池片产生的电流主要靠表面相互垂直的主栅线和细栅线收集和导出。因此，当隐裂(多为平行于主栅线的隐裂)导致细栅线断裂时，电流将无法被有效输送至主栅线，从而导致电池片部分乃至整片失效，还可能造成碎片、热斑等，同时引起组件的功率衰减。垂直于主栅线的隐裂几乎不对细栅线造成影响，因此造成电池片失效的面积几乎为零。

而正处于快速发展的薄膜太阳能电池，由于其材料、结构特性，不存在隐裂的问题。同时其表面通过一层透明导电薄膜收集和传输电流，即使电池片有小的瑕疵造成导电膜破裂，也不会造成电池大面积失效。

有研究显示，组件中如果某个电池的失效面积在8%以内，则对组件的功率影响不大，并且组件中2/3的斜条纹隐裂对组件的功率没有影响。所以说，虽然隐裂是晶硅电池常见的问题，但也不必过度担心。 检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，欢迎客户来电！

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光伏组件原因：高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封装胶膜条件下，组件的抗PID性能会存在差异。

电池片原因：电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中，由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。 江苏电池片检测仪