陕西检测仪

时间:2022年07月04日 来源:

对于整体组件在封装成后,如何把控质量与技术呢?这就会出现各种各样的问题。目前,组件质量的把控能力,主要通过样品的测试结果来反映。组件的发电量会根据接受的辐照度呈现不规则线性变化。通过低辐照度下电性能测试,可以有效了解产品是否适合在日照条件较差的地区使用。由于组件老化、缺陷或者环境遮蔽会导致过热现象。通过热斑测试,可以确定组件耐热斑热效应的能力。在温度较高地区容易出现由于接地条件差异和电势差导致的性能衰减。通过PID电致衰减测试,可以研究组件及系统电势对组件性能衰减的影响。在保证零部件可靠性的同时,组件的密封性能将直接影响封装在组件的使用寿命。通过EVA剥离强度测量,定量测量组件封装强度,可有效避免因封装工艺的缺陷导致的损失。无论封装技术如何发展,都必须保证玻璃与EVA之间的剥离强度不能低于40N/CM。否则,组件的可靠性将成为比较大的问题。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,让您满意,有想法可以来我司咨询!陕西检测仪

光伏组件背板的结构由基材的两面加功能层组成。光伏组件背板通过自身优良的物理性能、耐老化性能、隔绝空气和水分的性能,绝缘性能使组件成为一个有较好物理机械强度的整体并且内部结构长时间不受外界有害因素影响。从而对太阳能电池组件提供保护和支撑。此外,由于加工工艺的要求,背板还要在层压时与EVA牢固粘合,还要与粘结接线盒的硅胶牢固粘合,自身两层EVA融化要彻底交融。两面氟膜背板:绝缘性好,但与EVA粘结有好有坏,制造成本也毕竟高。使用Tedlar,粘结氟膜的粘合剂老化后,氟膜分层、起泡、鼓包、黄变等。山东视觉检测仪器厂家上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测,欢迎您的来电!

EL检测仪,又称太阳能组件电致发光缺点检测仪,是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光,测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系,因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。

仓库内或者室内检测:白天,如无强烈太阳光照射,可直接将红外相机放置在三脚架上,对着组件进行内部缺陷的检测。如有强烈太阳能光照射则需要搭建防简易帐篷组件红外暗室,在暗室内将组件抬进去EL检测。夜晚,也是直接使用红外相机防止三脚架上进行检测,无需暗室(该EL检测仪不受月光的干扰)。此相机已经经过滤光处理,月光,灯光对于测试无任何影响。检测有问题的组件取出来退换。电站现场室外户外检测:白天,阳光下检测需搭建防红外暗室帐篷,抬放组件进暗室进行EL内部缺陷检测。夜晚,组件检测直接使用红外相机三脚架进行检测,设备自带移动电源以便户外上电使用。此过程中检测问题的组件可直接进行支架上安装。检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,让您满意,期待您的光临!

光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,有需求可以来电咨询!广东组件检测

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目前全片组件仍占据主要市场份额。但半片或更小片的电池片组件的功率封装损失更小,未来半片的市场份额将大幅上升。叠瓦电池组件市占比也会逐渐增长,将全片电池片分割为半片或更小片的电池片组件(包括叠瓦组件),需要新增激光划片机。同时,因加工动作翻倍,导致单机产能下降,适用于半片或更小片电池片的焊接设备需求量将会增加。因此,半片或更小片的电池片组件渗透率的提升将带动激光划片机、串焊设备(多主栅串焊机、叠瓦机等)的需求增长。总地来说组件设备有串焊机、汇流条自动焊接机、层压机、削边机、EL测试仪、全自动装框机、接线盒设备、清洗设备、IV测试仪。层压和串焊是常规组件设备的。串焊机+层压机占组件设备比重约25%。串焊机是将的太阳能电池片串联起来,形成环境稳定的复合结构。层压机通过修整太阳能组件,增加结构,使得组装后的组件巩固而防水。陕西检测仪

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