天津电池片检测仪价格

时间:2023年04月04日 来源:

另外通过EL图像明暗关系还可以反映电池或组件制备工艺缺点,例如断栅片、暗片、黑片等。电池断栅主要是由印刷不良或烧结时磨损造成,断栅处不能有效收集电池载流子。暗片一般是由于电池分选不当,低效片混入正常片中,次的电池片在组件工作过程中不能充分发挥其发电能力,从而造成浪费,甚至引起组件发热。组件中的黑片可能是由于焊接失效或电池片无功率造成,在使用过程中容易引起热斑。此外,通过EL测试还能表征组件使用过程中的失效缺点,例如二极管击穿缺点、PID缺点等。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司,有想法的不要错过哦!天津电池片检测仪价格

隐裂是指电池片中出现细小裂纹,电池片的隐裂会加速电池片功率衰减,影响组件的正常使用寿命,同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大,有可能导致开路性破坏,隐裂还可能会导致热斑效应。隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的,组件受力不均匀,或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。光伏组件在出厂前会进行EL成像检测,所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理,利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺陷。EL检测仪能够检测光伏电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。北京人工智能检测仪上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,竭诚为您服务。

EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。EL检测仪,又称太阳能组件电致发光缺点检测仪,是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光,测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系,因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。

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EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的部分是半导体PN结,在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD相机辅助捕捉这些光子,然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少,该处存在缺点;如果有的区域完全是暗的,该处没有发生电子和空穴的复合,也或者是所发光被其它障碍所遮挡,无法检测到信号。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,有需求可以来电咨询!浙江电池片检测仪器

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组件发展的宗旨是减少封装损失,提高组件单位面积发电效率。目前有两个组件技术,一是提高发电功率如多主栅组件和半片组件,二是提高发电密度如叠瓦组件。多主栅技术通过增加电池片上主栅数量提升了受光面积;使电池片上电阻、电流分布更加均匀,从而降低阻抗损失。半片组件技术是将传统电池片一切为二,不改变后续组件制备工艺。其增效原理是通过降低电路电流来减少电阻损失。叠瓦组件是将电池切片后,按照叠瓦的设计将一个切片电池的边缘叠盖在另一个切片的边缘。其使用导电胶实现切片电池直接衔接导电,摒弃传统组件利用焊带方式的间距衔接导电。相比较而言,半片在技术上相对更容易控制,设备投资门槛较低,不少厂商将导入半片组件,大厂将会大量提升半片产能,预期很快能成为主流产品之一。多主栅也是未来的重点趋势,但短期内难以形成规模。叠片技术的技术及资金门槛更高,发展要比半片和多主栅技术更缓慢。天津电池片检测仪价格

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