扫描电镜多少钱

时间:2023年09月17日 来源:

液相色谱仪—NexeraLC-40介绍:(1)UV-VIS紫外可见光检测器SPD-40/SPD40V二极管阵列检测器SPD-M40三重控温技术提高设备稳定性分析数据与消耗品信息相关联,以确保可追溯性.(2)流动相输送单元LC-40系列在分析过程中具备自动诊断以及自动恢复功能.更加节约空间的二元输液泵一体化设计。(3)自动进样器SIL-40系列/TECHANGER进样速度较之前产品提升一倍,缩短多样品分析进程时间。可对多达44组微孔板进行连续分析。微量进样时保证高重复性和交叉污染。自动样品前处理功能,如样品稀释、内标添加、衍生化反应等,从而减少劳动强度。四川沃顿科技有限公司原子吸收分光光度计批发就找四川沃顿科技有限公司。扫描电镜多少钱

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XRDynamic500介绍-自动校准简单易用:每个光束和测量几何与所有反射镜和单色器自校X射线源与所有光学元件的精确校准在所有条件下都有比较好的出射角度无需售后上门即可随时执行仪器自校准-实现长的运行时间并降低拥有成本。环境和非环境条件下的全自动样品校准,避免测量错误XRDynamic500介绍-自动校准简单易用:每个光束和测量几何与所有反射镜和单色器自校X射线源与所有光学元件的精确校准在所有条件下都有比较好的出射角度无需售后上门即可随时执行仪器自校准-实现长的运行时间并降低拥有成本。环境和非环境条件下的全自动样品校准,避免测量错误四川X射线衍射仪厂商成都液相色谱质谱连用仪批发就找四川沃顿科技有限公司。

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XRDynamic 500介绍-大测角仪半径和真空光束路径可提供更好的分辨率:标准测角仪半径为 360 mm或 400 mm,用于在经典 Bragg-Brentano 几何衍射仪中获得最高分辨率数据独特的真空光路.所有的光学元件和探测器都在真空中,实现比较高信噪比无需在测量速度XRDynamic 500介绍-和测量分辨率之间进行折衷 一可以二者兼得。使用较大的测角仪半径时,由于空气散射导致的测量背景小。XRDynamic 500介绍-大测角仪半径和真空光束路径可提供更好的分辨率:标准测角仪半径为 360 mm或 400 mm,用于在经典 Bragg-Brentano 几何衍射仪中获得最高分辨率数据独特的真空光路.所有的光学元件和探测器都在真空中,实现比较高信噪比无需在测量速度XRDynamic 500介绍-和测量分辨率之间进行折衷 一可以二者兼得。使用较大的测角仪半径时,由于空气散射导致的测量背景小。

液相色谱仪—NexeraLC-40介绍:1、流动相精灵MPM-40.储液盘内置传感器实时监测流动相余量。2、系统控制器SCL-40,CBM-40。1.可通过智能设备进行远程监控2.可通过触摸面板轻松进行Purge与基线检查等操作。3、色谱柱温箱CTO-40系列。1.自动生成、记录进样次数、分析压力等色谱柱信息2.柱连接更加简单方便,创新的接口设计防止色谱峰扩散。3.LabSolutions”m通过历史数据判断色谱柱损耗程度。液相色谱仪—NexeraLC-40介绍:1、流动相精灵MPM-40.储液盘内置传感器实时监测流动相余量。2、系统控制器SCL-40,CBM-40。1.可通过智能设备进行远程监控2.可通过触摸面板轻松进行Purge与基线检查等操作。3、色谱柱温箱CTO-40系列。1.自动生成、记录进样次数、分析压力等色谱柱信息2.柱连接更加简单方便,创新的接口设计防止色谱峰扩散。3.LabSolutions”m通过历史数据判断色谱柱损耗程度。四川液相色谱仪批发就找四川沃顿科技有限公司。

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XRDynamic 500介绍-比较好的多用 X 射线光束:带有额外倾斜轴的光源 pitch 理念用于精确校准任何光学元件与 X 射线源由于 X 射线源与所有反射镜和单色器的出射角经过优化.主光束强度能够达到比较大Pitch 理念允许多层单色器与所有类型阳极管一起使用,从而使 K 滤波片余并能比较大限度地提高测量质量。轻松切换光管聚焦和快速更换 X 射线管,以解决样品荧光等问题。XRDynamic 500介绍-比较好的多用 X 射线光束:带有额外倾斜轴的光源 pitch 理念用于精确校准任何光学元件与 X 射线源由于 X 射线源与所有反射镜和单色器的出射角经过优化.主光束强度能够达到比较大Pitch 理念允许多层单色器与所有类型阳极管一起使用,从而使 K 滤波片余并能比较大限度地提高测量质量。轻松切换光管聚焦和快速更换 X 射线管,以解决样品荧光等问题。成都光电直读光谱仪批发就找四川沃顿科技有限公司。透射电镜批发

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元素分析检测设备—JEM-JEM-F200特点:1、外观设计精炼:精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。2、四级聚光镜系统:现在的电子显微镜需要支持范围的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。3、扫描系统:JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能(选配)。扫描电镜多少钱

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