上海NB/T 20010.10-2010地震
地震检测电源模块测试中的测试方法 1反复开关机测试 测试方法: A、输入电压为220V,电源模块快带较大负载,用接触器控制电压输入,合15s,断开5s(或者可以用AC SOURCE进行模拟),连续运行2小时,电源模块应能正常工作; B、输入电压为过压点-5V,电源模块带较大负载,用接触器控制电压输入,合15s,断开5s(或者可以用AC SOURCE进行模拟),连续运行2小时,电源模块应能正常工作; C、输入电压为欠压点-5V,电源模块带更大负载,用接触器控制电压输入,合15s,断开5s(或者可以用AC SOURCE进行模拟),连续运行2小时,电源模块应能正常工作。常用地震试验分类有哪些?上海NB/T 20010.10-2010地震
上海天梯检测技术有限公司振动测试: 振动测试方法 首先: 先进行随机振动,将待测产品固定在振动平台上,在开机状态下,要求产品保持满负载运行,在X,Y,Z三个轴向中心各运行1H检测异常现象发生。 第二步: 正弦振动,在非开机状态下寻找产品结构的危险频率,在X,Y,Z三个轴向中心各运行1H检测异常现象发生。在产品的研发阶段,任何存在的隐藏问题都要被剔除,而正弦振动就是考量产品结构设计的一剂猛药。正弦振动可以轻易查找出产品存在共振现象时的共振点,以此不但可以确定产品的危险频率,还可以论证产品的机械结构完好性。 第三步: 为了覆盖到常用的振动环境,天梯也专门定义了包装振动的测试条件,采用带包装随机振动的方式,模拟产品的包装条件,将产品固定在平台上进行包装振动的随机振动测试,频率为5~500Hz,总均方根加速度值2.16Grms,同样是三轴向各1H的测试时间。地震专业第三方机构地震试验的目的是什么?有哪些种类?
地震试验与失效分析 地震是电子设备的重要质量特性之一,它直接关系到电子仪器装备的可用性,影响电子设备效能的发挥。上海天梯检测技术有限公司为客户提供从元器件级别,到电路板/模块级别,到整机系统级别的气候环境试验、机械力学试验、产品性能检测,以及相关的失效分析服务。 地震测试服务项目 高温测试 跌落测试 低温测试 寿命测试 高、低温循环测试 跌落测试 冷热冲击测试 盐雾实验 防火测试 电子产品性能测试 防水测试 大声压测试(EN50332) 防尘测试 音频性能测试 老化实验 天线性能测试 振动实验 太阳能光伏板(PV)性能测试
上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级(外壳防护试验): 外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 一般的地震测试项目包含哪些内容?
地震检测的范围包含: 交换类:电话交换设备、路由器、以太网交换机、HLR 传输类: SDH、WDM、MSTP、PTN、OTN、ASON数字微波通信设备、卫星地球站传输设备 电源类:高频开关电源、UPS、蓄电池、锂电池、高压直流240V/336V供电系统、交/直流配电柜 移动基站类:基站设备、直放站设备、基站控制器 接入类设备:ADSL/ADSL2+、VSAT、EPON 服务器和网关类设备:服务器、网关、BNAS、SIP、综合接入媒体网关设备、信令网关设备 通信设备及设施:集装箱数据中心、ICT机房设备等 各种电力设备、电工电子设备、核设备等地震测试操作的时候需要注意什么?地震专业第三方机构
地震测试哪里可以做?上海NB/T 20010.10-2010地震
HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品地震的测试手段,HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品地震试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品地震的薄弱环节。上海NB/T 20010.10-2010地震
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