长沙EMC抗扰度试验仪器

探析电磁干扰引发的各种危害。从现状来看，各个日常生活领域都无法脱离电子设备。但是不应忽视，电子设备本身将引发突显的电磁干扰，以至于伤害到更根本的人体健康。在情形严重时，电磁干扰还将引发多种多样的人体疾病，并且减损了电子设备固有的性能。具体来说，电磁干扰很可能表现为如下的明显危害。人类健康遭受的伤害。由于受到时间较长的电磁辐射干扰，那么一旦超出了更大的人类承受限度，则会引发与之相应的各种健康损害。与此同时，电磁辐射还会引发程度较重的健康风险以及健康威胁。这主要是由于，辐射能量将会直接作用于特定的人体部位或者人体组织，进而产生了突显的非热效应或者辐射热效应。在此前提下，大范围防控潜在性的电磁辐射也就是在保障人类健康，对此需要引发更广的关注。电磁干扰及电磁抗扰度测试系统是一种用于动力与电气工程领域的电子测量仪器。长沙EMC抗扰度试验仪器

工频磁场的抗扰度试验试验设备，线圈有三种形式，方形单独感应线圈，标准的边长尺寸为1m见方，用于小型设备，场强允差在3dB以内的可容试品体积为0.6m@0.6m@0.5m(h)。方形双感应线圈，亦称霍尔姆兹线圈，标准的边长尺寸为1m，两个并联线圈之间的距离是0.8m。采用双线圈的场强均匀度将比3dB好。如保持与单线圈同等均匀度时，试品体积为0.6m@0.6m@1m(h)。对大型柜型设备来说，线圈应根据试品尺寸和场的不同极化方向来制造。为保护场的均匀度，线圈每边到试品外壳的更小距离在水平和垂直方向分别为0.2m和0.3m。合肥医疗抗扰度测试仪雷击浪涌发生器提供高达6kV的脉冲试验电压。

传导性共模抗扰度测试的本质：这种共模抗扰度测试以共模电压的形式把干扰叠加到被测产品的各种电源端口和信号端口上，并以共模电流的形式注入到被测产品的内部电路中（产品的机械结构构架对EFT/B共模电流的路径与大小起着决定性的作用，这部分内容可以参考书籍《EMC设计分析方法与EMC风险评估技术》），或直接以共模电流的形式注入到被测产品的内部电路中，让共模电流在产品内部传输的过程中，会转化成差模电压并干扰内部电路正常工作电压（产品电路中的工作电压是差模电压）。对于单端传输信号，如图1所示，当同时注入到信号线和GND地线上的共模干扰信号进入电路时，在IC1的信号的端口处，由于S1与GND所对应的阻抗不一样（S1较高，GND较低），共模干扰信号会转化成差模信号，差模信号存在与S1与GND之间。这样，干扰首先会对IC1的输入口产生干扰。

静电放电抗扰度试验原理及测试方法介绍：电放电抗扰度测试方法，GB/T17626.2国内静电放电标准描述的是在低湿度环境下，通过摩擦使人体带电.带了电的人体，在与设备接触过程中就可能对设备放电.静电放电抗扰度试验模拟了两种情况:⑴设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电，和放电对设备工作的影响;⑵设备操作人员在触摸邻近设备时，对所关心这台设备的影响，其中前一种情况称为直接放电(直接对设备放电);后一种情况称为间接放电(通过对邻近物体的放电，间接构成对设备工作的影响).静电放电可能造成的后果是:⑴通过直接放电，引起设备中半导体器件的损坏，从而造成设备的长期性失效。⑵由放电(可能是直接放电，也可能是间接放电)而引起的近场电磁场变化，造成设备的误动作。静电放电发生器外部配有托，便于放置静电与放电电极。

电磁干扰包括电磁干扰源（信号发生器）、电磁干扰的传播方式（耦合路径）和干扰敏感设备三个环节。电磁干扰源，电磁干扰源是多种多样的，总的来说可以分为内部干扰源和外部干扰源两大类。内部干扰源，来自设备内部的干扰源分为两类，一类为传统部件，其中包括：雨刮器、冷却风扇电机、发电机、分电器、闪光器、电喇叭等；另一类为现代部件，其中包括：中心门锁控制器、电子燃油喷射控制器、各种电子模块、各种电机、ECU、SOC等。外部干扰源，来自外部的干扰源有以下几种：来自大自然的干扰，如雷电（雷击浪涌发生器）、宇宙射线、地磁辐射等；来自荧光灯、电风扇的低频干扰；来自电钻、电喇叭、电源开关、电机电刷的电火花干扰；来自雷达、高频发射机的高频干扰；高压电气设备、高压输电线等的电晕放电会产生宽带应脉冲，干扰与其临近的逻辑电路，使其误动作。射频传导抗扰度测试系统主要包括：射频信号发生器、功率放大器、测试软件及其他特用配件等。长沙EMC抗扰度试验仪器

射频电磁场辐射抗扰度试验是对电气、电子设备进行测试。长沙EMC抗扰度试验仪器

静电放电抗扰度试验原理及测试方法介绍：静电放电（ESD)是一种自然现象，经验表明，人在合成纤维的地毯上行走时，通过鞋子与地毯的摩擦，只要行走几步，人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻)，在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF，可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电，会有许多不同的电流脉冲，电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现，静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候，有可能导致数层半导体材料的击穿，产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化，可能危害电子设备的正常工作。长沙EMC抗扰度试验仪器

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