昌平区光谱共焦品牌企业

时间:2023年12月24日 来源:

采用对比测试方法,首先对基于白光共焦光谱技术的靶丸外表面轮廓测量精度进行了考核,图5(a)是靶丸外表面轮廓的原子力显微镜轮廓仪和白光共焦光谱轮廓仪的测量曲线。为了便于比较,将原子力显微镜轮廓仪的测量数据进行了偏移。从图中可以看出,二者的低阶轮廓整体相似,局部的轮廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精确测量圆周轮廓结果不一致;此外,白光共焦光谱的信噪比较原子力低,这表明白光共焦光谱适用于靶丸表面低阶的轮廓误差的测量。图5(b)是靶丸外表面轮廓原子力显微镜轮廓仪测量数据和白光共焦光谱轮廓仪测量数据的功率谱曲线,从图中可以看出,在模数低于100的功率谱范围内,两种方法的测量结果一致性较好,当模数大于100时,白光共焦光谱的测量数据大于原子力显微镜的测量数据,这也反应了白光共焦光谱仪在高频段测量数据信噪比相对较差的特点。由于光谱传感器Z向分辨率比原子力低一个量级,同时,受环境振动、光谱仪采样率及样品表面散射光等因素的影响,共焦光谱检测数据高频随机噪声可达100nm左右。光谱共焦位移传感器可以实现对材料的微小变形进行精确测量,对于研究材料的性能具有重要意义。昌平区光谱共焦品牌企业

昌平区光谱共焦品牌企业,光谱共焦

为了提高加工检测效率,实现尺寸形位公差与微观轮廓的同平台测量,提出一种基于光谱共焦位移传感器在现场坐标测量平台上集成表面粗糙度测量的方法。搭建实验测量系统且在Lab VIEW平台上开发系统的硬件通讯控制模块,并配套了高斯轮廓滤波处理及表面粗糙度的评价环境,建立了非接触的表面粗糙度测量能力。对标准台阶、表面粗糙度标准样块和曲面轮廓样品进行了测量,实验结果表明:该测量系统具有较高的测量精度和重复性,粗糙度参数Ra的测量重复性为0.0026μm,在优化零件检测流程和提高整体检测效率等方面具有一定的应用前景。徐州光谱共焦推荐光谱共焦技术具有很大的市场潜力。

昌平区光谱共焦品牌企业,光谱共焦

光谱共焦测量技术由于其高精度、允许被测表面有更大的倾斜角、测量速度快、实时性高、对被测表面状况要求低、以及高分辨率的独特优势,迅速成为工业测量的热门传感器,在生物医学、材料科学、半导体制造、表面工程研究、精密测量、3C电子等领域得到大量应用。本次测量场景使用的是创视智能TS-C1200光谱共焦传感头和CCS控制器。TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现0.025µm的重复精度,±0.02% of F.S.的线性精度, 30kHz的采样速度,以及±60°的测量角度,能够适应镜面、透明、半透明、膜层、金属粗糙面、多层玻璃等材料表面,支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。

光谱共焦位移传感器原理,由光源、透镜组、控制箱等组成。光源发出1束白光,透镜组先将白光发散成一系列波长不同的单色光,然后经同轴聚焦在一定范围内形成1个连续的焦点组,每个焦点的单色光波长对应1个轴向位置。当样品处于焦点范围内时,样品表面将聚焦后的光反射回去。这些反射回来的光经过与镜头组焦距相同的聚焦镜再次聚焦后通过狭缝进入控制箱中的单色仪。因此,只有焦点位置正好处于样品表面的单色光才能聚焦在狭缝上。单色仪将该波长的光分离出来,由控制箱中的光电组件识别并 得到样品的轴向位置。采用高数值孔径的聚焦镜头可以使传感器达到较高分辨率,满足薄膜厚度分布测量要求。光谱共焦技术可以对生物和材料的物理、化学、生物学等多个方面进行分析。

昌平区光谱共焦品牌企业,光谱共焦

在塑料薄膜及透明材料薄厚测量层面,朱万彬等阐述了光谱共焦传感器在测量全透明平板电脑的平整度时,由全透明平板电脑的折光率不同而引进的测量误差并进行补偿;曹太腾等基千三维数据 测量的机器视觉技术,利用光谱共焦传感器对透明材料薄厚及弧形玻璃曲面薄厚进行检测。在外表粗糙度测量层面,沈雪琴等阐述了不一样 方式测量外表粗糙度时优缺点 ,选择了根据光谱共焦传感器的测量方式并进行了有关试验,为外表粗糙度的高精密测量提供了一种新方法;林杰俊等利用光谱共焦法测量外表粗糙度样块的表面粗糙度,并阐述了其 测量不确定度。文中利用  小二乘法测算校准误差并进行了离散系统误差测算,减少光谱共焦传感器校准后的误差,并在不同精密度标准器下,探寻光谱共焦传感器的校准误差的变化情况,对今后对光谱共焦传感器的应用及科学研究拥有重要意义。光谱共焦技术具有轴向按层分析功能,精度可以达到纳米级别。崇明区光谱共焦免费咨询

光谱共焦位移传感器可以实现对材料的振动频率和振动幅度的测量,对于研究材料的振动特性具有重要意义。昌平区光谱共焦品牌企业

主要对光谱共焦传感器的校准时的误差进行研究。分别利用激光干涉仪与高精度测长机对光谱共焦传感器进行测量,用球面测头保证光谱共焦传感器的光路位于测头中心,以保证光谱共焦传感器的在测量时的安装精度,然后更换平面侧头,对光谱共焦传感器进行校准。用 小二乘法对测量数据进行处理,得到测量数据的非线性误差。结果表明:高精度测长机校准时的非线性误差为0.030%,激光干涉仪校准时的分析线性误差为0.038%。利用 小二乘法进行数据处理及非线性误差的计算,减小校准时产生的同轴度误差及光谱共焦传感器的系统误差,提高对光谱共焦传感器的校准精度。昌平区光谱共焦品牌企业

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责