防水激光位移传感器按需定制

本实用新型涉及一种检验校准装置，特别指一种激光位移传感器检验校准装置。激光位移传感器是一种利用激光技术进行测量的传感器，它由激光器、激光检测器、测量电路组成。激光位移传感器是一种新型的测量仪表，能够非接触测量被测物体的位移变化，并且测量精度高。在激光位移传感器的使用过程中，由于设备的磨损老化等原因，导致激光位移传感器的测量误差增大，此时需要将激光位移传感器进行定期的检验、校准。目前，对激光位移传感器的检验、校准，主流的做法是测量一个已知的距离(比如：1米、5米、10米等)，通过对比测量的数值与实际的数值来判断测量的精确度。但是这种方法存在有如下问题：1、检验的精度不够高；2、需要较大的场地。激光三角反射式测量原理基于简单的几何关系。防水激光位移传感器按需定制

从图3所示的成像光学系统结构图可看出，在整个物面并不垂直于光轴时，经过系统成像以后得到的像面也不垂直于光轴，与光轴存在一定的夹角β，设计的lastβ优化值取为60.4628°，此时像面上可得到比较理想的光斑分布。在工作范围内不同视场的散射光均能很好地成像于探测器。在图4中可看到不同视场的成像光斑形状，此点列图表明成像光斑分布均匀，但还存在一定的剩余像差，主要为球差，光斑大小可见表2，光斑直径在20μm左右。同时根据设计结果可得像距为33.092mm，经计算tanα/tanβ=0.6137，di/do=0.6145，此物镜设计基本满足于Scheimpflug理想成像条件。无锡激光位移传感器详情激光位移传感器在学术科研行业的应用案例。

本发明涉及光学测量领域，并且特别地，涉及一种激光位移传感器；光学传感器是依据光学原理进行测量的仪器，这类传感器有许多优点，例如，能够实现非接触和非破坏性测量、测量几乎不受干扰、能够实现高速传输以及可遥测、遥控、可实时处理等优点。光学传感器包括很多类型，其中，以激光三角法为基本原理的激光位移传感器是一种利用激光为光源、将CMOS(ComplementaryMetalOxideSemiconductor，互补金属氧化物半导体)或者CCD(Charge-coupledDevice，电荷耦合元件)传感器作为接收器的精密测量仪器。这种传感器能够在非接触的情况下精确测量被测物体的位置、位移等变化，并且能够被应用于检测物体的位移、厚度、振动、距离、直径等几何量的测量。

综上所述，激光位移传感器检验校准装置的优点在于：1、通过所述电子千分表221，使得所述激光位移传感器4的检验精度极大提高。2、通过所述电动伸缩双直线导轨11，简化了检验流程、当设备闲置时收缩导轨可节约占地面积。虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本实用新型的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本实用新型的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本实用新型的权利要求所保护的范围内。它可以用于测量建筑结构的变形和振动。

加工-测量-再加工-再测量是非球面加工的必要过程。非球面透镜的高精度检测不仅包括非球面表面形状的检测，还包括非球面中心偏差的测量。要求非球面透镜的形状误差在几厘米到几十厘米的范围内小于1μm。受现有冷加工工艺、车床运动误差、磨削力变形及检测误差的限制，加工的非球面光学元件会产生一些质量缺陷，无法保证跨尺度的产品满足高精度要求。为了使非球面透镜表面形状误差、中心偏差等参数满足设计精度要求，往往需要利用被加工非球面工件的中心偏差检测信息进行多误差校正和补偿加工。激光位移传感器可以实现微米级的位移测量。无锡激光位移传感器详情

激光位移传感器可以测量位移、厚度、振动、距离、直径等精密的几何测量。防水激光位移传感器按需定制

从图2的镜头图可以看出，第二块透镜的半径很小，主要是为了保证系统在整个工作范围内得到相对均匀的光斑。表1给出了在工作范围内光斑的直径大小，maximum为0.4mm，在靠近透镜的一边，minimun为0.08mm，在55mm处。由于成像系统的入射光是整形部分光经过物体散射回去的，因此整形系统得到的光斑不能太小;同时为了保证精度要求，光斑也不能太大，上面的结果能够满足需求。得到好的出射光斑以后，如何接收物体表面的散射光并使其精确成像，是确保激光位移传感器精度的关键问题。在直入射式三角法测量中，物体沿激光入射方向移动，物面并不垂直于成像光轴。那么在透镜成像过程中(如图1)，由几何成像公式可证明： tanα/tanβ=d1/d',即为理想成像的Scheimpflug条件[5]。要想达到理想的成像效果，光电探测器需依此条件放置。防水激光位移传感器按需定制