青浦区HTOL测试机型号

高效率HTOL自研设备，高质量HTOL品质保障，低成本HTOL测试方案。上海顶策科技有限公司TH801智能一体化老化测试机，自主研发在线实时单颗监测技术，通过监测数据，可以实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率，节省更多时间、FA成本，全程数据记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL数据记录，让报告更有说服力，下游客户更放心。可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案，包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备，以及测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，可以满足各类芯片可靠性测试需求。TH801智能老化系统，全程数据实时记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性。青浦区HTOL测试机型号

上海顶策科技有限公司（Topictest）推出的TH801智能在线监控动态老化设备，拥有多项发明专利及软件著作权，可实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率。可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案，包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备，以及测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，可以满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术，大幅度提高HTOL效率，节省更多时间、FA成本，全程数据记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL数据记录，让报告更有说服力，下游客户更放心。HTOL测试机私人定做上海顶策科技TH801智能老化系统，拥有智能动态在线实时检测技术，同时一体化结合ATE与高温老化炉。

    MIL-STD-883K-2016：稳态反向偏置S级**少时间有240h到120h共6个级别；B级**少时间352h到12h共10个级别；K级**少时间从700h到320h共6个级别。S级最低温度从125℃到150℃共6个级别；B级别最低温度从100℃到250℃；K级最低温度从100℃到125℃。电压大小全部为额定电压B：稳态正向偏置C：稳态功率反向偏置D：并联励磁E：环形振荡器F：温度加速试验————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：blog./qq_36671997/article/details/。

高质量、高效率、低成本HTOL测试方案，上海顶策科技有限公司自主研发TH801智能一体化HTOL测试机，拥有多项发明专利及软件著作权，可实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率。提供可靠性测试整体解决方案：可靠性设备，HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCBlayout加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告等一条龙服务。上海顶策科技有限公司可靠性测试服务，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性。

    芯片可靠性测试（HTOL）HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一项关键性的基础测试，用应力（电压、温度等拉偏）加速的方式模拟芯片的长期运行，评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性。广电计量服务内容：老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验HTOL试验方案：在要求点(如0、168、500、1000hr)进行ATE测试，确定芯片是否OK,记录每颗芯片的关键参数，并分析老化过程中的变化。对芯片覆盖率要求如：CPU/DSP/MCU/logic：ATPG的stuck-atfaultcoverage＞70％。MemoryBIST:覆盖所有memory。3、模拟电路：覆盖PLL/AD/DA/SERDES等关键IP。 可靠性事业部提供各类芯片的老化程序开发调试，可靠性测试实验，出具可靠性报告等一条龙服务。虹口区国产HTOL测试机

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    4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求，则认为失效。：1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：。4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求，则认为失效。：1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：。 青浦区HTOL测试机型号