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时间:2021年02月04日 来源:

针座测试原理:参数测试系统将电流或电压输入被测器件,然后测量该器件对于此输入信号的反应.从量测仪器通过电缆线至针座杆,然后通过针座点针测试点到被测器件,并后沿原路返回量测器仪。计算机在我们生活中越来越重要。计算机的主要部件是**处理器(CPU)和存储器(RAM),它们是以大规模集成电路为基础建造起来的,而这些集成电路都是由半导体材料做成的。那么大家了解什么是半导体吗?而针座作为检测每片晶圆上各个芯片电信号,保证半导体产品品质的检测设备,其重要性自然不言而喻。针座由于动子和定子间无相对摩擦故无磨损,使用寿命长。福建3.96WAFER

针座主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,针座可吸附多种规格的芯片,并提供多个可调测试及探卡测试针台座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性,材料被分为像铜一样导电的导体,像陶瓷一样不导电的绝缘体,还有导电性介于两者间的半导体。近,“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。双排针座厂商如果发现问题,就需要复杂的诊断过程和人工分析,才能找到问题的原因。

顶端压力主要由针座的驱动器件控制,额外的Z运动(垂直行程)会令其直线上升。此外,针座材质、针座直径、光束长度、和尖锥长度都在决定顶端压力时起重要的作用。解释了触点压力和接触电阻的关系。从本质上来说,随着针座开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层,接触电阻减小而电流流动迅速开始。随着针座接触到焊点金属的亚表层,这些效应将增加。尽管随着针座压力的增强,接触电阻逐渐降低,终它会达到两金属的标称接触电阻值。

在实际使用中,针座的接触电阻在很大程度上取决于焊点的材料、清洗的次数、以及针座的状况,而且它同标称值相差较多。其中钨铼合金(97%-3%)的接触电阻比钨稍高,抗疲劳性相似。但是,由于钨铼合金的晶格结构比钨更加紧密,其针座顶端的平面更加光滑。因此,这些针座顶端被污染的可能性更小,更容易清洁,其接触电阻也比钨更加稳定。所以钨铼合金是一种更佳的选择。但是,接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。我们通过针座把测试仪和被测芯片连接起来。

接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标,因为实际的接触电阻很难测量。一般,信号路径电阻被用来替代接触电阻,而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候,针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻,即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是,接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触,这与接触电阻(CRes)直接相关。针座虚焊和布线断线或短路,测试时都要测不稳。福建3.96WAFER

针座是自动测试仪与待测器件之间的接口。福建3.96WAFER

尽管半导体测试针座国产化迫在眉睫,但从技术的角度来看,要想替代进口产品却并不容易。业内人士指出,国内半导体测试针座还只能用于要求不高的测试需求,比如可靠性测试国产针座可以替代很多,但功能性测试和性能测试还有待突破。弹簧测试针座主要的技术是精微加工和组装能力,涉及精微加工设备、经验、工艺能力缺一不可。值得注意的是,由于半导体测试针座市场一直被国外厂商占据,同时也实施了技术封锁,国内并没有相应的技术人才,包括生产人员和设计人员都缺乏。国内大部分测试针座厂商基本不具备全自动化生产制造能力。福建3.96WAFER

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