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如何判断针座的好坏：1.可以用扎五点来判断，即上中下左右，五点是否扎在压点内，且针迹清楚,又没出氧化层,针迹圆而不长且不开叉.2.做接触检查,每根针与压点接触电阻是否小于0.5欧姆.3.通过看实际测试参数来判断,针座与被测IC没有接触好，测试值接近于0。总之，操作工只要了解了针座故障的主要原因：1.针座氧化.2.针尖有异物(铝粉，墨迹，尘埃).3.针尖高度差.4.针尖异常(开裂，折断，弯曲，破损)。.5.针尖磨平.6.针座没焊好.7.背面有突起物，焊锡线头.8.操作不当。平时操作时应注意:1.保护好针座,卡应放到氮气柜中.2.做好针座的管理工作.3.规范操作,针尖不要碰伤任何东西。同时加强操作人员的技能培训。有利于提工作效率和提高质量。针座由于动子和定子间无相对摩擦故无磨损，使用寿命长。东莞机械针座诚信合作

将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/O pads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：参数探测：提供制造期间的装置特性测量；晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafer sort)测试装置功能；以针座为基础的晶圆处理探测(Final Test)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。汕头优势针座推荐咨询细针和待测器件进行物理和电学接触。

铼钨针座的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有厉害度和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。铼钨针座有不同的针尖类型，即不同的尖部形状，例如，针尖带平台，针尖完全尖以及针尖为圆弧；针座直径为0.05-1.2mm，长度为15-300mm，尖部为0.08-100μm。铼钨针座主要应用于半导体、LED、LCD等行业，应用于针座、针座、芯片测试、晶圆测试和LED芯片测试等领域。针座用于晶圆加工之后、封装工艺之前的 CP 测试环节，负责晶圆的输送与定位，使晶圆上的晶粒依次与针座接触并逐个测试。

为什么要射频探测？由于器件小形化及高频谱的应用，电路尺寸不断缩小，类似微带线及PCB版本Pad的测试没有物理接口，使得仪表本身无法与待测物进行直接连接，如果人为的焊接射频接口难免会引入不确定的误差，所以射频针座的使用完美的解决了这个问题。射频探头和校准基板允许工程师进行精确、重复的测量与校准。且任何受过一定训练的工程师都可以进行针座的架设与仪表的校准，以分钟为单位进行测量。同样一个Pad测试点，如果通过针座测量与通过焊接SMA接口引出测量线的方法进行测试对比会发现，针座的精度是高于焊接Cable的精度。圆片移动到下一个芯片的位置，这种方法可以让圆片上的每一个芯片都经过测试。

在实际使用中，针座的接触电阻在很大程度上取决于焊点的材料、清洗的次数、以及针座的状况，而且它同标称值相差较多。其中钨铼合金（97%-3%）的接触电阻比钨稍高，抗疲劳性相似。但是，由于钨铼合金的晶格结构比钨更加紧密，其针座顶端的平面更加光滑。因此，这些针座顶端被污染的可能性更小，更容易清洁，其接触电阻也比钨更加稳定。所以钨铼合金是一种更佳的选择。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。我们通过针座把测试仪和被测芯片连接起来。汕头优势针座推荐咨询

针座尖接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。东莞机械针座诚信合作

尽管半导体测试针座国产化迫在眉睫，但从技术的角度来看，要想替代进口产品却并不容易。业内人士指出，国内半导体测试针座还只能用于要求不高的测试需求，比如可靠性测试国产针座可以替代很多，但功能性测试和性能测试还有待突破。弹簧测试针座主要的技术是精微加工和组装能力，涉及精微加工设备、经验、工艺能力缺一不可。值得注意的是，由于半导体测试针座市场一直被国外厂商占据，同时也实施了技术封锁，国内并没有相应的技术人才，包括生产人员和设计人员都缺乏。国内大部分测试针座厂商基本不具备全自动化生产制造能力。东莞机械针座诚信合作