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针座是半导体（包括集成电路、分立器件、光电器件、传感器）行业重要的检测装备之一，其普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。针座用于晶圆加工之后、封装工艺之前的 CP 测试环节，负责晶圆的输送与定位，使晶圆上的晶粒依次与针座接触并逐个测试。在半导体器件与集成电路制造工艺中，从单晶硅棒的制取到终器件制造的完成需经过复杂的工序，可分为前道工序与后道工序，针座是检测半导体芯片的电参数、光参数的关键设备。经过检测，针座将参数特性不符合要求的芯片记录下来，在进入后序工序前予以剔除，降低器件的制造成本。针座是自动测试仪与待测器件之间的接口。重庆WAFER加工

铼钨针座的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有厉害度和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。铼钨针座有不同的针尖类型，即不同的尖部形状，例如，针尖带平台，针尖完全尖以及针尖为圆弧；针座直径为0.05-1.2mm，长度为15-300mm，尖部为0.08-100μm。铼钨针座主要应用于半导体、LED、LCD等行业，应用于针座、针座、芯片测试、晶圆测试和LED芯片测试等领域。针座用于晶圆加工之后、封装工艺之前的 CP 测试环节，负责晶圆的输送与定位，使晶圆上的晶粒依次与针座接触并逐个测试。陕西WAFER制造厂针座没焊到位，是因为焊锡时针受热要稍微的收缩，使针尖偏离压点区。

如何判断针座的好坏：1.可以用扎五点来判断，即上中下左右，五点是否扎在压点内，且针迹清楚,又没出氧化层,针迹圆而不长且不开叉.2.做接触检查,每根针与压点接触电阻是否小于0.5欧姆.3.通过看实际测试参数来判断,针座与被测IC没有接触好，测试值接近于0。总之，操作工只要了解了针座故障的主要原因：1.针座氧化.2.针尖有异物(铝粉，墨迹，尘埃).3.针尖高度差.4.针尖异常(开裂，折断，弯曲，破损)。.5.针尖磨平.6.针座没焊好.7.背面有突起物，焊锡线头.8.操作不当。平时操作时应注意:1.保护好针座,卡应放到氮气柜中.2.做好针座的管理工作.3.规范操作,针尖不要碰伤任何东西。同时加强操作人员的技能培训。有利于提工作效率和提高质量。

接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标，因为实际的接触电阻很难测量。一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候，针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触，这与接触电阻（CRes）直接相关。针座如果发现缺陷，产品小组将用测试数据来确保有缺陷的芯片不会被送到客户手里。

正确地使用针座，可有效地提高操效率，减少误操作造成样品和针座耗材的损伤、损耗。本文以针座的使用方法为例，为您讲解如何使用手动针座。主要包含了两部分的教学内容：如何使用显微镜观察和如何使用定位器将针座扎到待测点上。如何正确地使用显微镜、用显微镜观察待测样品。（1）打开显微镜光源，调节光源亮度。将待测样品（或待观察位置）移至显微镜光斑下。（2）确认显微镜调焦架处于行程中间位置，即调焦架的导轨对齐。若有偏差，可以通过旋转调焦架粗调旋钮对齐。针座常见故障分析及维护方法：芯片测试是IC制造业里不可缺少的一个重要环节。重庆WAFER加工

无论是全自动针座还是自动针座，工作台都是其主要的部分。重庆WAFER加工

针座是半导体行业、光电行业、集成电路以及封装等行业的一种测试设备，主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。针座是利用针座直接与测试对象的焊垫或凸块等直接接触，引出讯号，达到测试的目的。针座普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。关于针座电学量测使用的探外地，测试针，是用于测试PCBA的一种针座，主要做为电学信号的输入。当针座针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将针座退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，后则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。重庆WAFER加工