广州半导体抗扰度实验仪器

  传导抗扰度测试系统主要是模拟电气和电子设备对来自9KHZ-230MHZ频率范围**频发射机产生的电磁场，设备至少通过一条连接电缆（如电源线、信号线、地线等）与射频场相耦合。传导抗扰度测试系统是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器，传导抗扰度测试系统：1 信号源 型号：NSG 4070 频率范围：9kHz至1GHz 分辨率：1Hz 参考频率：参考频率输出10MHz 电平范围：-60dBm至+10dBm 分辨率：0.1dB 调幅 调制深度：0～100% 调制频率范围：1Hz至50kHz 频率分辨率：1Hz 脉冲调制 升/降时间：＜1μs 调制频率范围：1Hz至50kHz 频率分辨率：1Hz 占空比：10%至90% 外部调制 延时时间：＜1μs/180° 周期：较少20μs 脉冲宽度：较少10μs 功率计配置三通道，可以实现闭环电流监控 频率范围：9kHz～1GHz 测试主机：1台 功率探头：外部可连接3个 线性测量范围 通道1-3：-60dBm--+20dBm 底噪声：大于测量范围以下6dB 输入回波损耗：＞20dB（低于500MHz时）、＞17dB(500MHz至6GHz)。几乎所有的电子电气设备都会受到浪涌的影响。广州半导体抗扰度实验仪器

    静电放电抗扰度实验室试验的配置及气候环境：实验室的地面应设置接地参考平面，它应是一种较小厚度为，其他金属材料虽可使用它们至少有。接地参考面的较小尺寸1m²，实际的尺寸取决于受试设备的尺寸，而且每边至少应伸出受试设备或耦合板之外，并将它与保护接地系统相连。受试设备与实验室墙壁和其他金属性结构之间的距离较小1m。规定有耦合板的地方，例如允许采用间接放电的地方，这些耦合板采用和接地参考面相同的金属和厚度，而且每断带有一个470kΩ电阻的电缆与接地参考平面连接，当电缆置于接地参考平面上时，这些电阻器应耐受住放电电压且具有良好的绝缘，以避免对接地参考平面的短路，也可以防止静电电荷的积累。 北京半导体抗扰度测试系统射频电磁场辐射抗扰度试验标准有：GB/T17626.3、GB /T 4365-1995、GB /T 17626.6--1998、GB /T 17618-1998。

    射频电磁场辐射抗扰度试验主要是对应国家标准GB/《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度》的试验方法。在主要来自80MHz~2000MHz以上频率范围**频辐射源产生的电磁场中运行的电气、电子设备会受到该电磁场的作用从而影响设备的正常运行。射频辐射电磁场对设备的干扰往往是由设备操作、维修和安全检查人员在使用移动电话、无线电台、电视发射台、移动无线电发射机等电磁辐射源产生的（以上属有意发射），汽车点火装置、电焊机、晶闸管整流器、荧光灯工作时产生的寄生辐射（以上属无意发射）也都会产生射频辐射干扰。测试的目的是为了建立一个共同的标准来评价电气和电子产品或系统的抗射频辐射电磁场干扰的能力。

    静电放电抗扰度实验结果试验结果应依据受试设备的功能丧失或性能降级进行分类。相关的性能水平由设备的制造商或试验的需求方确定，或由产品的制造商和购买双方协商同意。建议按如下要求分类：a)在制造商、委托方或购买方规定的限值内性能正常b)功能或性能暂时丧失或降低，但在sao扰停止后能自行恢复，不需要操作者干预；c)功能或性能暂时丧失或降低，但需操作人员干预才能恢复；d)因设备硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能降低。由制造商提出的技术规范可以规定对受试设备产生的某些影响是不重要的，因而这些影响是可接受的。在没有适用的通用标准、产品标准或产品类标准时，这种分类可以由负责相应产品通用标准、产品标准和产品类标准的专业标准化技术委员会制定用于作为明确性能判据的指南，或作为制造商和购买方双方协商的性能判据的框架。 浪涌（冲击）抗扰度试验 执行标准:IEC 61000-4-5 GB/T 17626.5。

    静电放电抗扰度试验方法：有型式试验（在实验室进行）及安装现场试验两种，标准规定以前者为主。试验中一般以1次/秒的速率进行放电，以便让设备对试验未来得及响应另外正式试验前要用20次/秒的放电速率，对被试设备表面很快扫视一遍，目的找出设备对静电放电敏感的部位。试验电压要由低到高逐渐增加到规定值。静电放电用在平时可以用触摸到的点上。试验采用：1）单次放电。2）在选定点与地之间进行放电。3）每个点上至少放电10次（正或负极性）。4）相邻两次放电之间至少间隔1秒在选择放电点的时候，则用每秒20次的放电速度进行，着力于寻找可能静电放电敏感的点。对于邻近物体间的放电，可通过对接地板和试品附近（相距250px）的金属板（1250px×1250px）放电来模拟。 工频磁场抗扰度测试磁场由注入感应线圈中的电流产生。南京射频电磁场抗扰度试验

射频抗扰度试验的低频部分，采用传导测试方式更直接。广州半导体抗扰度实验仪器

  浪涌(冲击)抗扰度试验的起因：电力系统的开关瞬态：a）主要的电力系统切换Sao扰，例如电容器组的切换；b)配电系统中较小的局部开关动作或负载变化；C)与开关器件（如晶闸管）相关联的谐振现象；d)各种系统故障，例如设备组合对接地系统的短路和电弧故障。雷电瞬态：a）直接雷，它击于外部（户外）电路，注入的大电流流过接地电阻或外部电路阻抗而产生电压；b)间接雷（即云层之间或云层中的雷击或击于附近物体的雷击产生的电磁场），它在建筑物内、外导体上产生的感应电压和电流；C)附近直接对地放电的雷电电流，当它耦合到设备组合接地系统的公共接地路径时产生感应电压。当雷电保护装置动作时，电压和电流可能发生迅速变化，并可能耦合到内部电路。广州半导体抗扰度实验仪器

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