专注HTOL测试机性能

芯片HTOL测试项目柔性开发，芯片HTOL测试自研设备。上海顶策科技有限公司自主研发TH801智能一体化HTOL测试机，拥有多项发明专利及软件著作权，可实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率。提供可靠性设备，HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCBlayout加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告。上海顶策科技有限公司可靠性测试部，提供HTOL方案设计制作。专注HTOL测试机性能

    技术实现要素：本发明提供了一种闪存htol测试方法，以解决闪存htol测试中读点失效的问题。本发明提供的闪存htol测试方法，包括：提供待测闪存，所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元；所述闪存参考单元中捕获有空穴；对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除，以在所述闪存参考单元中引入电子；对所述闪存进行htol测试，所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失，以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。进一步的，所述闪存参考单元包括衬底、位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极和漏极，位于所述导电沟道上方的栅极单元，所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层、浮栅、栅间介质层以及控制栅，所述栅极单元的两侧分布有侧墙。 国内HTOL测试机推荐厂家TH801智能老化系统，全程HTOL数据记录，让质量报告更有说服力，下游客户更放心。

包括：将所述源极101和漏极102均悬空，在所述控制栅106上施加***擦除电压vc1，在所述衬底100上施加第二擦除电压vc2；其中，所述***擦除电压vc1为负电压，所述第二擦除电压vc2为正电压。所述***擦除电压vc1的范围为-10v～-8v，本实施例中例如为-9v；所述第二擦除电压vc2的范围为8v～10v，本实施例中例如为9v；擦除过程中的脉冲宽度为10ms～20ms。本实施例中，闪存参考单元的擦除原理是基于fowler-nordheim隧穿(简称为fn隧穿)，通过在衬底100上施加正电压，在控制栅106上施加负电压，以在隧穿氧化层103中注入空穴，同时减少浮栅104中的电子。

    htonl()简述：将主机的无符号长整形数转换成网络字节顺序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong：主机字节顺序表达的32位数。注释：本函数将一个32位数从主机字节顺序转换成网络字节顺序。返回值：htonl()返回一个网络字节顺序的值。参见：htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系统下：#include<arpa/(uint32_thostlong);相关函数：uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);网际协议在处理这些多字节整数时，使用大端字节序。在主机本身就使用大端字节序时，这些函数通常被定义为空宏。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「gocpplua」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。 TH801智能老化系统，全程数据实时记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性。

    高温工作寿命实验（Hightemperatureoperatinglifetest:HTOL）测试目的：芯片处于高温条件下，加入动态信号，并长时间工作，以评估其使用寿命，并确定其可靠性。测试条件：结温(Tj)≧125℃，电压Vcc≧Vccmax，测试时间：1000hrs样品数：77ea/lot,3lots测试读点：168、500、1000hrs参考规范：、JESD22-A108JESD22-A108B：Temperature,Bias,andOperatingLifeJESD85：METHODSFORCALCULATINGFAILURERATESINUNITSOFFITSJESD47K：Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuitsJESD74：EarlyLifeFailureRateCalculationProcedureforSemiconductorComponents芯片工作寿命试验、老化试验(OperatingLifeTest)，为利用温度、电压加速方式，在短时间试验内，预估芯片在长时间可工作下的寿命时间(生命周期预估)。BI(Burn-in)/ELFR(EarlyLifeFailureRate)：评估早夭阶段的故障率或藉由BI手法降低出货的早夭率-DPPM(DefectPartsPer-Million)，针对失效模式中的InfantMortality，一般测试低于48小时，车规级芯片需要100%BI测试。HTOL(HighTemperatureOperatingLife)：评估可使用期的寿命时间-FIT/MTTF，针对失效模式中的Wearout，一般需要测试1000小时，属于抽样测试。 上海顶策科技智能HTOL系统，通过监测数据，可实时发现问题并介入分析，大幅度提高HTOL效率。国内HTOL测试机推荐厂家

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    4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求，则认为失效。：1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：。4.失效判据标准失效判据备注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采购文件要求，则认为失效。：1.四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：。 专注HTOL测试机性能