湖州通用功能测试系统方案

电路板生产过程中，下线前一定要经过成功的在线测试(ICT)和功能测试(FCT)。HD-1000提供了高性价比和功能丰富的测试平台，提供了分别对应ICT和FCT的硬件及软件模块，可以测试空调、冰箱等家电控制板，使电路板的ICT和FCT 测试可以在同一个针床和同一道工序上完成。而且即使客户需要更高的吞吐量、更宽的产品种类、更自动的流水线方式，都依然可以通过这种低成本方式来实现。这些特点为本身具有更高测试需求同时不希望增加测试成本的客户提供了极好的解决方案。通用功能测试：适用于多种电子产品的功能测试，提高测试效率，降低成本。湖州通用功能测试系统方案

Boundary-Scan边界扫描技术ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。 IEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。首先定义了组成测试访问端口（TAP）的四（五〕个管脚：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。湖州通用功能测试系统方案电路板功能测试系统用于检测电路板的各项功能。

在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。IC的测试 对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如:与非门的测试对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

治具，常规的治具设计，大多采用双载板平衡杆和针板平衡杆。在测试过程中压板下压时，如果压板、载板、针板固定不佳，容易产生晃动，从而使UUT产生翘边变形，进行而导致测试针和测试点接触不良或者位置偏移，使得测试针弯曲变形引起误测甚至导致UUT裂损。上述情况的发生，尤其是在UUT的厚度发生较大变化时更容易产生。治具定位原理，根据电路板的不同, 可采用以下几种定位方式根据工件的不同情况。1、以外缘轮廓定位，对于面积尺寸较小而且外廓一致性较好的电路板，可采用外轮廓定位方式。长边用定位板，限制2个自由度；短边用定位针，限制1个自由度。在另一短边，还可以增加1只定位针，形成所谓的约束性过定位。这种方式中，两根定位柱所限位的尺寸应比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。虽然由于此间隙的存在，定位精度会略有降低，但操作方便、制造简单。2、以“边/孔”定位，对于面积尺寸较大的电路板，可以采用“边/孔”定位，这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度，定位柱限制2个自由度。这种形式中，通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。电源功能测试系统用于验证各类电源的输出性能。

操作系统，可供电路板测试选择的操作系统很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，选择操作系统时受限于硬件设备的支持、程序人员的技术水平、操作系统的普及程度和操作系统本身特点等诸多因素，趋于采用广为普及的Windows操作系统。总线技术，电路板测试技术的发展与仪器控制总线的发展永远是密切相关的，仪器控制总线的每一次更新都促进电路板测试技术的更新。仪器控制总线有GPIB总线、VXI总线和PXI总线三种，它们是发展过程中依次出现的总线技术，表示着电路板测试技术的发展历程。GPIB总线是早期出现的仪器接口控制总线，多用于常见的台式仪器上，采用该总线集成的系统体积大、数据传输速率低（较大数据传输速率为1MB/s）且同一系统总线上较多可连15台仪器。功能测试系统可提高产品质量和可靠性。湖州通用功能测试系统方案

PCBA功能测试：针对印刷电路板组件（PCBA）进行功能测试，确保其性能达标。湖州通用功能测试系统方案

系统特点，全自动电路板载入，HD-1000提供的全自动在线流水线方式，能满足不同制造商电路板生产线测试需求，可将吞吐量提高30%以上；进一步的，HD-1000可以轻松的集成在SMT流水线中。外部软件集成，经过与电子行业内不同客户的长期合作以及了解， HD-1000为制造商扩展了外部应用软件集成功能，例如进行LED测试的制造商可以使用HD-1000进行电流测量，同时对测试结果进行分析，其他的例如音频和视频测试，也可以集成到一站中。良品不良品分拣，通过对HD-1000进行轻松编程，可以根据电路板的OK/NG测试结果，自动使NG的不良品组件流入收纳箱或暂存轨道，使OK的良品组件流入正常的下一道工序。湖州通用功能测试系统方案