无锡小型测试系统设计

电路，测试电路主要包括传感器和变换器、信号调理装置、数据采集设备、负载模拟器等，传感器和变换器测量不同的物理量，并将它们变换为电信号；信号调理主要对电信号进行加工，使其符合采集设备的要求；模拟器仿真UUT的真实负载，为其提供工作环境。传感器和变换器的种类很多，它们直接与各种物理量相关联，并将这些物理量转换为采集设备可以采集的电信号。在设计测试电路前必须对被测对象和测量需求做详细分析，正确选择相应的传感器和变换器。信号调理设备对传感器和变换器送来的信号采取放大、滤波、隔离等措施，将它们转化为采集设备易于读取的信号。测试数据智能化分析：通过对测试数据的分析，为产品优化提供有力支持。无锡小型测试系统设计

接口的标准化和可拨动地址开关:各国生产的智能仪器大多带有标准的接口系统，采用IEEE48标准。智能仪器的后面板上配置了一组可拨动的地址开关。使用者可以方便的将仪器听/讲地址设置为任何希望的数字。记忆功能:由于配置了存储器，大多数智能仪器都县有一记忆功能。操作者不只可以很方便的通过面板控制或程序将仪器的工作状态，甚至测试数据存贮在指定的存储器中，而且在需要时还可以方便的调用存储器的内容。多功能化:上述特点较大程度上增加了智能仪器的测量功能。浙江集成测试系统测试步骤电源测试：针对电源设备进行严格检测，保证电源系统的稳定性和可靠性。

系统特点，全自动电路板载入，HD-1000提供的全自动在线流水线方式，能满足不同制造商电路板生产线测试需求，可将吞吐量提高30%以上；进一步的，HD-1000可以轻松的集成在SMT流水线中。外部软件集成，经过与电子行业内不同客户的长期合作以及了解， HD-1000为制造商扩展了外部应用软件集成功能，例如进行LED测试的制造商可以使用HD-1000进行电流测量，同时对测试结果进行分析，其他的例如音频和视频测试，也可以集成到一站中。良品不良品分拣，通过对HD-1000进行轻松编程，可以根据电路板的OK/NG测试结果，自动使NG的不良品组件流入收纳箱或暂存轨道，使OK的良品组件流入正常的下一道工序。

治具，常规的治具设计，大多采用双载板平衡杆和针板平衡杆。在测试过程中压板下压时，如果压板、载板、针板固定不佳，容易产生晃动，从而使UUT产生翘边变形，进行而导致测试针和测试点接触不良或者位置偏移，使得测试针弯曲变形引起误测甚至导致UUT裂损。上述情况的发生，尤其是在UUT的厚度发生较大变化时更容易产生。治具定位原理，根据电路板的不同, 可采用以下几种定位方式根据工件的不同情况。1、以外缘轮廓定位，对于面积尺寸较小而且外廓一致性较好的电路板，可采用外轮廓定位方式。长边用定位板，限制2个自由度；短边用定位针，限制1个自由度。在另一短边，还可以增加1只定位针，形成所谓的约束性过定位。这种方式中，两根定位柱所限位的尺寸应比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。虽然由于此间隙的存在，定位精度会略有降低，但操作方便、制造简单。2、以“边/孔”定位，对于面积尺寸较大的电路板，可以采用“边/孔”定位，这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度，定位柱限制2个自由度。这种形式中，通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。验收功能测试系统用于验证产品符合规格要求。

测试方式选择（TMS）用来加载控制信息；其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式，主要有外测试（EXTEST）、内测试（INTEST）、运行测试（RUNTEST）；较后提出了边界扫描语言（Boundary Scan Description Language），BSDL语言描述扫描器件的重要信息，它定义管脚为输入、输出和双向类型，定义了TAP的模式和指令集。具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器（SSR）的单元相接，称为扫描单元，扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链，用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。测试流程优化：通过优化测试流程，提高测试系统的稳定性和可靠性。浙江集成测试系统测试步骤

通用功能测试系统可适用于多种不同产品的功能验证。无锡小型测试系统设计

测控计算机，早期的自动测试系统多采用小型机和工作站，随着现代PC性能的大幅提高，已远远高出以前小型机的性能，趋向于采用广为普及的现代PC，这样便于利用计算机技术发展的较新成果，容易更新升级。为满足电路板测试的小型化以及便携式测试系统的要求，还研制出了基于VXI总线和PXI总线的嵌入式PC，可直接插入VXI机箱或PXI机箱，使测试系统结构更紧凑，外形更小巧。采用wai挂式处理器集成系统时，可以采用MXI-VXI或MXI-PXI总线、GPIB总线、IEEE-1394（俗称火线）总线、USB通过串行总线等多种方式与VXI或PXI机箱通信，这几种通信方式各有优缺点，具体选择何种通信方式需考虑成本、数据传输速率及它们各自的物理机械特性等因素。无锡小型测试系统设计