南通测试系统设计

装备制造业是提供技术装备的基础性产业，涉及一个国家一个地区的主要竞争力，是增强国民自信的源泉。随着中国软实力的不断增强，相信中国本土自动测试设备品牌必将在转型升级、不断创新中迎来更大的发展。自动测试设备(ATE)的研制工作始于 20世纪50年代。现代测试内容日益复杂, 测试工作量激增,而且要求完成测试的时间越来越短，人工测试很难满足这些要求,自动测试技术因而得到迅速发展。较完善的自动测试设备是60年代采用电子计算机以后才问世的。无线综合功能测试系统适用于测试无线设备功能。南通测试系统设计

上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，使之成为电子厂不可或缺的必备检测设备，并迅速推广普及。80年代中国台湾由全球令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，中国台湾开始完全仿制TESCON测试仪，并推出众多品牌的压床式ICT，其价格更加低廉，迫使曾全球头一市占率的日本TESCON淡出市场，并因中国台湾电子代工业大发展而大幅提高市占率。从上世纪70年代开始，国内即有开发类似的静态测试仪，1993年，中国本土品牌更先进日本韩国中国台湾及香港开发出全亚洲头一台windows版的ICT。时至这里，美国泰瑞达和安捷伦仍是先进品牌，成为事实上的此类技术的标准!浙江电池测试系统专业技术服务各种功能测试系统可满足不同行业的功能验证需求。

非向量测试随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加突出。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。DeltaScan模拟结测试技术 DeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管，对被测器件的单独引脚对进行简单的直流电流测试。

FrameScan电容藕合测试 FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。如图所示：1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。2 测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。GenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高。离线测试：针对不具备在线测试条件的设备，离线测试成为保证产品质量的关键手段。

全自动在线功能测试系统功能：在线测试(ICT)：PCB开路、短路、漏件、错件、变值、反向、虚焊、空焊（包括IC空焊）等。功能测试(FCT)：电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比、转速、LED亮度、位置测定、图形识别、声音识别、温度测量以及控制、压力测量控制、精密运动控制、FLASH、EEPROM在线烧录等。UMAT-200型PCBA通用多功能自动测试系统通过PCI、ISA控制板卡和LabVIEW软件，构建一套比较完成的PCBA功能测试系统，运用该系统可实现对PCBA的各种动静态参数进行快速且全方面的自动测试，对于新Model用户无需更换测试硬件，只需增加一个相应治具、编辑一个测试程序即可。电池功能测试系统用于检测电池性能和容量。浙江电池测试系统专业技术服务

电子产品的质量保障：功能测试系统是电子产品质量的关键环节，确保产品在出厂前达到预期性能。南通测试系统设计

分类，按操作模式，依操作模式的不同，功能测试系统可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试、全自动控制功能测试。早期的功能测试基本以手动和半自动为主，即使到2015年，对于简单的被测目标（UUT），有时依然采用手动或半自动，这主要是为了简化设计和降低成本。随着科技能力和工业化水平的提高以及产业集群的发展，为了好的保证质量和提高效率，功能测试主要以全自动方式为主，本方案即按此方式设计。按控制方式，依照控制方式不同，FCT可以分为：嵌入式MCU控制方式、基于PLC控制方式、基于PC控制方式等。南通测试系统设计