湖州功能测试系统设备

在不同的技术领域里,测试内容、要求、条件和自动测试系统各不相同，但都是利用计算机代替人的测试活动。一般自动测试系统包括控制器、激励源、测量仪表(或传感器)、开关系统、人机接口和被测单元－机器接口等部分。① 控制器，一般是小型计算机、微型计算机或计算器(即专门使用母线控制器)。控制器应有测试程序软件，用来管理测试过程,控制数据流，接受测量结果,处理数据，检验读数误差，完成计算，并将结果送到显示器或打印机。② 激励源，即信号源，它向被测单元提供输入信号。它可以是电源、函数发生器、数模转换器、频率合成器等。功能测试系统有利于产品上市前的全方面验收。湖州功能测试系统设备

Boundary-Scan边界扫描技术ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。 IEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。首先定义了组成测试访问端口（TAP）的四（五〕个管脚：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。湖州测试系统加工测试流程优化：通过优化测试流程，提高测试系统的稳定性和可靠性。

仪器仪表及其发展历程，头一代仪器仪表是指针式的，如实验室中至今还在使用的指针式万用表、电压表、电流表、功率表等。这些仪表是基于电磁测量原理并用指针来指示侧得值。第二代仪器仪表是数字式的，这类仪器仪表适应于快速响应和高精度的要求目前这类仪器仪表已很普及。第三代仪器仪表:智能化仪器仪表。20世纪70年代初期，随着大规模集成电路制造技术的发展，人们发明了微处理器芯片。3年之后，美国便开始出售安装有微型计算机的分析仪器，例如IiP5830A色谱仪。从此仪器仪表的设计中几乎没有不考虑采用微型计算机的。

ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法：模拟器件测试利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。 若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。 1.2 隔离（Guarding）上面的测试方法是针对单独的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix笽ref，测试时必须加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。电子产品的质量保障：功能测试系统是电子产品质量的关键环节，确保产品在出厂前达到预期性能。

功能测试（FCT）一般专指PCBA上电后的测试，主要包括电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比、亮度与颜色、字符识别、声音识别、温度测量、压力测量、运动控制、FLASH和EEPROM烧录等测试项目。自动化FCT测试设备大都基于开放式硬、软件体系结构设计，能够灵活地扩展硬件，快捷方便的建立测试程序；一般可以做到支持多种仪器，可以灵活的按需进行配置；而且要具有丰富的基本测试项目，较大可能地为用户提供通用、灵活、规范的解决方案。集成功能测试系统可同时测试多个功能。湖州测试系统加工

可靠性试验：模拟各种恶劣环境，验证电子设备在极端条件下的可靠性。湖州功能测试系统设备

上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，使之成为电子厂不可或缺的必备检测设备，并迅速推广普及。80年代中国台湾由全球令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，中国台湾开始完全仿制TESCON测试仪，并推出众多品牌的压床式ICT，其价格更加低廉，迫使曾全球头一市占率的日本TESCON淡出市场，并因中国台湾电子代工业大发展而大幅提高市占率。从上世纪70年代开始，国内即有开发类似的静态测试仪，1993年，中国本土品牌更先进日本韩国中国台湾及香港开发出全亚洲头一台windows版的ICT。时至这里，美国泰瑞达和安捷伦仍是先进品牌，成为事实上的此类技术的标准!湖州功能测试系统设备