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薄膜应力分析仪的运行原理是什么?

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岱美仪器技术服务2023-11-13

薄膜应力分析仪是一种用于测量薄膜材料内部应力的仪器。其运行原理基于薄膜材料在受力作用下会发生形变,通过测量形变量来计算薄膜的应力。薄膜应力分析仪通常采用弯曲法或拉伸法来测量薄膜的应力。在弯曲法中,薄膜样品被固定在一个支撑结构上,然后施加一个力使其发生弯曲。通过测量薄膜的弯曲量以及支撑结构的刚度,可以计算出薄膜的应力。在拉伸法中,薄膜样品被夹持在两个夹具之间,然后施加一个拉伸力。通过测量薄膜的拉伸量以及夹具的刚度,可以计算出薄膜的应力。薄膜应力分析仪通常还配备有传感器和数据采集系统,用于实时监测和记录薄膜的形变量。通过对形变量的分析和计算,可以得到薄膜的应力分布和大小。我们岱美正在不断从事技术革新,改进生产工艺,提高技术水平,倾力为客户提供更满意的产品!

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简介:岱美仪器,专注于半导体行业40多年,可提供欧美先进设备,拥有雄厚的技术积累,以及专业的技术服务团队。
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