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测试座的温度变化对测试结果有何影响呢?

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深圳市欣同达科技有限公司2024-11-12

在长时间连续测试过程,测试座的温度变化可能会对测试结果产生以下影响: 接触电阻变化:比较大多数金属材料的电阻会随温度升高而增比较大。当测试座在连续测试过程中温度升高时,其导电部分(如接触探针、线路等)的电阻也会相应增加,导致接触电阻增比较大,从而影响信号传输的准确性,使测试得到的电压、电流等参数出现偏差。 材料性能变化:测试座所使用的一些材料(如绝缘材料、弹性材料等)在温度变化时可能会发生性能改变。例如,绝缘材料可能会因为温度升高而出现绝缘性能下降的情况,导致漏电现象增加,影响测试的安全性和准确性;弹性材料可能会因为温度过高而失去弹性,造成接触不良。 信号传输特性改变:温度变化还可能影响测试座内部线路的电容、电感等参数,进而改变信号传输的特性,如出现信号延迟、衰减等问题,使测试结果与实际情况不符。

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简介:研发、生产和销售半导体芯片测试插座。提供定制化的测试插座方案
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